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MDPlinescan在線少子壽命測試儀靈活的OEM少子壽命測試儀器,用于各種不同樣品的少子壽命測量,從單晶硅磚到多晶硅磚,從生長的硅片到不同層或金屬化的硅片的...
MDPmap單晶和多晶硅片壽命測量儀MDPmap被設計成一個緊湊的臺式非接觸電學表征工具,用于離線生產控制或研發,在穩態或短脈沖激勵(μ-PCD)下,在一個寬的...
德國Freiberg Instruments 電阻率測試儀(RESmap )德國Freiberg Instruments 電阻率測試儀(RESmap )在對低電...
晶圓x射線晶體定向儀分揀系統XRD晶圓x射線晶體定向儀分揀系統用于全自動分揀、晶體取向、optical notch and flat determination...
Ingot XRD - 晶錠X射線定向儀晶錠XRD有著優良的XRD系統,用于單晶晶錠的自動定向、傾斜和對準研磨。SiC | Si| AlN | GaAs | Q...
體積重量掃碼系統 TLX MultiCapture™ Advanced包裹的動態數據采集.TLX系統具備高速優良分揀能力,最大限度恢復了收入。可準確...
手機面板IR孔測量儀 TMS-micro(I型)基于普通透過率測量儀的測試原理,增加顯微光路和成像CCD對測試區域進行**定位,用小尺寸光斑(0.1mm)測試樣...
全自動二次元測量儀VMS-4030A全自動二次元測量儀,為**全自動量測市場定制的一款光學影像測量儀,大幅度減少阿貝誤差,提高的測量準確度,有效保證各軸穩定性、...
超大屏觀察用微分干涉顯微鏡超大屏觀察用微分干涉顯微鏡(可移除底部工作臺),ZX-100DIC工業檢測顯微鏡適用于對工件表面的組織結構與幾何形態進行顯示。
線寬線徑測量儀線寬線徑測量儀TDS-12A確保高精度、高可靠性。雖然是手提式、但實現了1μm顯示,是具有優異的測定結果穩定性、高精度高可靠性的測長儀。
TMS-MICRO PRO 顯微透過率測量儀基于普通透過率測量儀的測試原理,增加顯微光路和成像CCD對測試區域進行**定位,用小尺寸光斑(0.1mm)測試樣品微...
手機面板IR孔測量儀 TMS-micro(I型)基于普通透過率測量儀的測試原理,增加顯微光路和成像CCD對測試區域進行**定位,用小尺寸光斑(0.1mm)測試樣...
玻璃表面應力儀簡單介紹:通過測定透明物體由于內應力而產生的雙折射現象來進行快速、大量的檢驗。廣泛用于光學玻璃、玻璃制品、透明塑料制品工業。
激光干涉儀隨著光通訊行業的飛速發展,特別是通訊行業手機、平板等對成像質量要求的不斷提高,必須對手機面板攝像孔的光學玻璃的透射波前進行檢測和分析。 光學玻璃的透射...
自動水滴角測試儀該儀器采用現代化工藝制造,儀器采用優良的專用CMOS數字攝像機,配倍高分辨率連續變倍顯微鏡和高亮度與穩定性好的工業光源,搭配三維樣品臺,可進行工...
手動水滴角測試儀該儀器采用現代化工藝制造,儀器采用優良的專用CMOS數字攝像機,配倍高分辨率連續變倍顯微鏡和高亮度與穩定性好的工業光源,搭配三維樣品臺,可進行工...
日本ORC UV-351能量計日本ORC UV-351能量計是用于紫外線燈在各行各業廣泛應用。如紫外UVCshajun,紫外固化,PCB曝光機上都有應用。日本O...
UV紫外線輻射計UV-M03A紫外線輻射計使用RS232通信機能數據可輸出照度測定MODE選擇時可選擇高感度附自動POWER OFF機能,以小型HANDY TY...
日本巖崎UVPF-A2紫外線照度計日本巖崎UVPF-A1紫外線照度計,請選擇與使用目的相符的受光器,通過改變受光器可測量不同的波長,具有表示值補正功能,可改正傳...
日本UV-M06能量計日本UV-M06能量計由紫外線準分子光線控制照,由紫外線準分子光線控制照射,可測量照度和光量RS-232C通訊輸出設備,方便測量數據傳輸電...
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