供應(yīng)
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F37-Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量儀測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要:Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量儀測(cè)厚儀
所在地:國外 更新時(shí)間:2024-10-10 在線留言
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精細(xì)的歷史數(shù)據(jù)功能,幫助用戶有效的存儲(chǔ),重現(xiàn)與繪制測(cè)量結(jié)果 -
F40薄膜測(cè)厚儀-Filmetrics 光學(xué)薄膜測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要:Filmetrics 光學(xué)薄膜測(cè)厚儀 F40 結(jié)合顯微鏡的薄膜測(cè)量系統(tǒng) ,精密光譜測(cè)量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測(cè)量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù),通過對(duì)待測(cè)膜層的上下界面間反射光譜的分析,幾秒鐘內(nèi)就可測(cè)量結(jié)果。
所在地:上海上海 更新時(shí)間:2024-10-10 在線留言 -
M4-Bruker M4 TORNADO X射線熒光光譜儀 詳細(xì)摘要:Bruker M4 TORNADO X射線熒光光譜儀 High performance Micro-XRF spectrometer,New Standards in Micro-XRF儀。。如需了解該產(chǎn)品,咨詢。。。
所在地:上海上海 更新時(shí)間:2024-10-10 在線留言 -
G300D-低頻主動(dòng)式消磁器 詳細(xì)摘要:低頻主動(dòng)式消磁器
所在地:上海上海 更新時(shí)間:2024-10-10 在線留言
這可能是在中國*性價(jià)比的主動(dòng)式消磁器。
也可能*的低頻主動(dòng)式消磁器。
也可能是業(yè)界Z為認(rèn)同的低頻主動(dòng)式消磁器。
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AVI 400MLP-主動(dòng)式防振系統(tǒng) 隔震臺(tái)防震臺(tái) 詳細(xì)摘要:AVI 400MLP 主動(dòng)式防振系統(tǒng) 隔震臺(tái)防震臺(tái),主動(dòng)式防振系統(tǒng)( AVI)能夠?yàn)榭蒲?、工程和生產(chǎn)過程所需要的精密儀器提供一 個(gè)穩(wěn)定的測(cè)量環(huán)境。。。。
所在地:上海上海 更新時(shí)間:2024-10-10 在線留言 -
HERZ TS系列 主動(dòng)式隔震系統(tǒng) 防振臺(tái) 詳細(xì)摘要:HERZ TS系列 主動(dòng)式隔震系統(tǒng) 防振臺(tái),主動(dòng)式隔震系統(tǒng)創(chuàng)建一個(gè)穩(wěn)定的測(cè)量環(huán)境。如需了解更多,咨詢。。。
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TABLE STABLE主動(dòng)式隔震系統(tǒng) 防震臺(tái) AVI-400 詳細(xì)摘要:TABLE STABLE主動(dòng)式隔震系統(tǒng) 防震臺(tái) 主動(dòng)式減震方案,應(yīng)用超乎你想象 更多TABLE STABLE 主動(dòng)式隔震系統(tǒng)AVI-400可參照詳情
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Filmetrics F50-桌面式薄膜測(cè)厚儀 美國 Filmetrics F50 膜厚測(cè)量儀 詳細(xì)摘要:桌面式薄膜測(cè)厚儀 美國 Filmetrics F50 膜厚測(cè)量儀自動(dòng)化薄膜厚度繪圖系統(tǒng) 依靠 F50的光譜測(cè)量系統(tǒng),可以很簡單快速地獲得Z大直徑 450 毫米的樣品薄膜的厚度分布圖
所在地:上海上海 更新時(shí)間:2024-10-10 在線留言 -
CDE DualMap-CDE DualMap 薄膜厚度測(cè)量儀 測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要:CDE DualMap 薄膜厚度測(cè)量 測(cè)厚儀,在可靠并受廣受歡迎的ResMap 168 平臺(tái)的基礎(chǔ)上,CDE DualMap 集成了一套的光譜膜厚測(cè)量系統(tǒng),從而獲得了高精度的薄膜厚度測(cè)量能力。。。。。。
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F3-sX-美國Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量儀 薄膜測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要:美國Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量儀 薄膜測(cè)厚儀滿足薄膜厚度范圍15nm到3mm的厚度測(cè)試系統(tǒng),如需了解更加,咨詢。。
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Filmetrics F10-ARc-桌面式薄膜厚度測(cè)量儀 膜厚測(cè)試儀 詳細(xì)摘要:Filmetrics F10-ARc桌面式薄膜厚度測(cè)量儀 膜厚測(cè)試儀 使得自動(dòng)測(cè)試眼科涂層變得又快又簡單。不論生產(chǎn)線操作人員還是研發(fā)技術(shù)人員都能在幾鐘內(nèi)檢測(cè)和記錄涂層情況
所在地:上海上海 更新時(shí)間:2024-10-10 在線留言 -
F60-t-Filmetrics 膜厚測(cè)量儀 詳細(xì)摘要:Filmetrics 膜厚測(cè)量儀自動(dòng)化薄膜厚度繪圖系統(tǒng)
所在地:上海上海 更新時(shí)間:2024-10-10 在線留言
依靠 F60 的光譜測(cè)量系統(tǒng),可以很簡單快速地獲得薄膜的厚度分布圖。 采用 r-θ 極坐標(biāo)移動(dòng)平臺(tái),可以非??焖俚亩ㄎ凰铚y(cè)試的點(diǎn)并測(cè)試厚度,測(cè)試非??焖?,大約每秒能測(cè)試兩點(diǎn)。用戶可以自己繪制需要的點(diǎn)