產品簡介
Filmetrics 光學薄膜測厚儀 F40 結合顯微鏡的薄膜測量系統 ,精密光譜測量系統讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數,通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析,幾秒鐘內就可測量結果。
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Filmetrics 光學薄膜測厚儀
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