產(chǎn)品簡介
依靠 F60 的光譜測量系統(tǒng),可以很簡單快速地獲得薄膜的厚度分布圖。 采用 r-θ 極坐標(biāo)移動平臺,可以非常快速的定位所需測試的點(diǎn)并測試厚度,測試非常快速,大約每秒能測試兩點(diǎn)。用戶可以自己繪制需要的點(diǎn)位地圖。 在約 45 秒的時(shí)間就可以掃描完標(biāo)準(zhǔn) 49 點(diǎn)分布圖
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Filmetrics F60-t 光學(xué)膜厚測量儀
Filmetrics 優(yōu)勢
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精細(xì)的歷史數(shù)據(jù)功能,幫助用戶有效的存儲,重現(xiàn)與繪制測量結(jié)果
免費(fèi)現(xiàn)場演示/支持
點(diǎn)幾下鼠標(biāo)就可以在網(wǎng)絡(luò)上在線看到現(xiàn)場演示!請,我們的應(yīng)用工程師會在電腦上為您演示薄膜測量是多么容易!
自動化薄膜厚度繪圖系統(tǒng)
依靠 F60 的光譜測量系統(tǒng),可以很簡單快速地獲得薄膜的厚度分布圖。 采用 r-θ 極坐標(biāo)移動平臺,可以非常快速的定位所需測試的點(diǎn)并測試厚度,測試非常快速,大約每秒能測試兩點(diǎn)。用戶可以自己繪制需要的點(diǎn)位地圖。 在約 45 秒的時(shí)間就可以掃描完標(biāo)準(zhǔn) 49 點(diǎn)分布圖
可測樣品膜層
基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測量。例如:
氧化硅 氮化硅 類金剛石 DLC
光刻膠 聚合物 聚亞酰胺
多晶硅 非晶硅 硅
相關(guān)應(yīng)用
半導(dǎo)體制造
光刻膠 氧化物 氮化物
光學(xué)鍍膜
硬涂層 抗反射涂層 濾光片
液晶顯示器
盒厚 聚酰亞胺 ITO
生物醫(yī)學(xué)
聚對二甲苯 生物膜 硝化纖維
Filmetrics F60-t 光學(xué)膜厚測量儀Filmetrics F60-t 光學(xué)膜厚測量儀Filmetrics F60-t 光學(xué)膜厚測量儀Filmetrics F60-t 光學(xué)膜厚測量儀Filmetrics F60-t 光學(xué)膜厚測量儀Filmetrics F60-t 光學(xué)膜厚測量儀Filmetrics F60-t 光學(xué)膜厚測量儀