半自動晶圓清洗機(jī) 參考價(jià)：面議
半自動晶圓清洗機(jī)UH117型是半自動晶片清潔系統(tǒng),專業(yè)為為鋸切或劃線后的晶片清潔而設(shè)計(jì)。
光伏太陽能光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
這款光伏太陽能光譜橢偏儀是專業(yè)為光伏太陽能領(lǐng)域的薄膜測量而開的手動光伏橢偏儀，這款為光伏薄膜測量研究提供便利，具有實(shí)時測量薄膜厚度和薄膜厚度繪圖的*功能。它采用...
反射式光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
這款反射式光譜橢偏儀MSP具有250-1000nm的波長范圍，可與顯微分光光度計(jì)聯(lián)合使用，測量極小斑點(diǎn)的薄膜厚度和折射率，可廣泛用于MEMS，半導(dǎo)體晶圓等領(lǐng)域,...
自動光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
這款自動光譜橢偏儀M300是一種自動變角光譜橢偏儀和深紫外光譜橢偏儀,具有250-1100nm的波長范圍，并具有自動改變?nèi)肷浣堑墓δ堋Ｗ詣觭pectroscop...
三腔室分子束外延系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
三腔室分子束外延系統(tǒng)是帶有三個MBE分子束外延生長腔室的異質(zhì)結(jié)材料MBE生長設(shè)備,可用于在高達(dá)∅100mm的襯底上以及三個2英寸以上襯底上一次精確生...
混合異質(zhì)結(jié)構(gòu)分子束外延系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
混合異質(zhì)結(jié)構(gòu)分子束外延系統(tǒng)具有雙反應(yīng)器,非常適合А3В5和А2В6異質(zhì)結(jié)構(gòu)生長應(yīng)用,也可用于epi晶圓研發(fā)和試生產(chǎn)。
高壓PVD系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
高壓PVD系統(tǒng)配置適合在晶圓濺射金屬膜,磁性材料,多組分氧化物,得益于它靈活的配置和特殊的晶圓加熱器設(shè)計(jì),PVD可以在溫度最高900℃的襯底上濺射金屬膜層和磁性...
電子束蒸發(fā)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
電子束蒸發(fā)系統(tǒng)是按照“從實(shí)驗(yàn)室到工廠"的方法設(shè)計(jì)的電子束鍍膜蒸發(fā)系統(tǒng),既適用于密集的研發(fā)活動，也適用于中試生產(chǎn)。
超高真空開爾文探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
超高真空開爾文探針系統(tǒng)幫助用戶充分利用真空下的工作功能和接觸電位差（CPD）測量。每個系統(tǒng)都配有高質(zhì)量的手動或電動轉(zhuǎn)換器，可實(shí)現(xiàn)可靠和準(zhǔn)確的針尖到樣品定位，跟蹤...
太陽能電池i-v測試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
太陽能電池i-v測試系統(tǒng)是專業(yè)為光伏器件特性測量設(shè)計(jì)的太陽能電池i-v測量系統(tǒng)。測量太陽能電池的電流-電壓曲線，然后自動計(jì)算關(guān)鍵器件屬性。此外，I-V測量可以隨...
四點(diǎn)探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
這款四點(diǎn)探針系統(tǒng)用于快速測量材料的片電阻、電阻率和電導(dǎo)率。系統(tǒng)包括一個四點(diǎn)探針、源測量單元和易于使用的PC軟件。不適用于測量形成天然絕緣氧化物（如硅）的材料的性...
超高真空超低溫四探針SPM 參考價(jià)：面議
這超高真空超低溫四探針SPM是超高真空室內(nèi)應(yīng)用設(shè)計(jì)的UHV極低溫多探針掃描探針顯微鏡，得益于多探針SPM優(yōu)異性能,這款產(chǎn)品可用于納米技術(shù)
單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
我們的單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng)采用非零信號檢測方法對材料的功函數(shù)/費(fèi)米能級進(jìn)行非常高質(zhì)量的測量。
太陽能電池I-V測試儀 參考價(jià)：面議
太陽能電池I-V測試儀能夠高精度高效率地測量太陽能I-V曲線和Suns-Voc數(shù)據(jù)，可高精度測量傳統(tǒng)太陽能電池和背接觸太陽能電池。
Suns-Voc后擴(kuò)散測試儀 參考價(jià)：面議
Suns-Voc后擴(kuò)散測試儀是Suns-Voc后擴(kuò)散過程控制的理想儀器，適合用于漿料燒結(jié)優(yōu)化和過程控制。
高分辨率晶圓厚度測試儀 參考價(jià)：面議
高分辨率晶圓厚度測試儀能夠高精度測量硅晶圓厚度和硅晶圓厚度變化,分辨率高達(dá)10nm,可滿足不同的晶圓厚度范圍。
微探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
這款微探針系統(tǒng)micro probe是為材料光學(xué)特性和電特性測試設(shè)計(jì)的納米級微納探針儀器,可以結(jié)合顯微鏡,光譜儀等儀器在各種環(huán)境條件下現(xiàn)場測試材料電學(xué)和光學(xué)特性...
納米操縱系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
納米操縱系統(tǒng)采用納米探針模塊nanoprober為顯微鏡或電鏡下微納操作提供納米級微操縱方案,非常適合SEM和各種電鏡樣品微操作使用
晶圓裝卸操作臺 參考價(jià)：面議
晶圓裝卸操作臺是專業(yè)為4英寸晶圓裝卸,晶圓搬運(yùn),晶圓取放等晶圓操作操縱設(shè)計(jì)的晶圓裝卸定位臺系統(tǒng)。它采用XYZ三維定位臺和360度旋轉(zhuǎn)臺集成而成。
電鏡熒光屏 參考價(jià)：面議
這款電鏡熒光屏與電鏡光導(dǎo)聯(lián)合使用用于電鏡探測和電鏡成像，電鏡熒光片采用進(jìn)口閃爍單晶，具有熒光轉(zhuǎn)換效率高，壽命長的特點(diǎn)，是SEM掃描電鏡探測成像和TEM透射電鏡探...
磁場消除系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
這款磁場消除系統(tǒng)專業(yè)為掃描電鏡,聚焦離子束FIB消磁或電磁屏蔽設(shè)計(jì)的消磁儀器和磁場補(bǔ)償系統(tǒng),有效屏蔽消除磁場噪聲問題,為電子顯微鏡,電子和離子束實(shí)驗(yàn),磁共振成像...
范德瓦爾斯轉(zhuǎn)移臺 參考價(jià)：面議
范德瓦爾斯轉(zhuǎn)移臺VAN DER WAALS是為半導(dǎo)體芯片不同材料在位置的堆積過程研究設(shè)計(jì)的范德瓦爾斯位移臺。
C-V/I-V特性測試儀 參考價(jià)：面議
C-V/I-V特性測試儀是為半導(dǎo)體C-V特性分析測試和I-V特性測試分析設(shè)計(jì)的C-V/I-V測試系統(tǒng)。
混凝土掃描儀 參考價(jià)：面議
這款混凝土掃描儀是專業(yè)為鋼筋混凝土掃描設(shè)計(jì)混凝土鋼筋掃描儀,能夠掃描處混凝土內(nèi)的鋼筋,管線和空隙,查找鋼筋和管道走向,避免施工切割到鋼筋和管線。(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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