描述

JSIR340-4型經濟實惠的紅外輻射源專為NDIR氣體分析和其他紅外測量應用而優化，如直接紅外光譜法、衰減全反射光譜法或光聲光譜法。基于CMOS的紅外輻射源的膜片可達到高達800°C的溫度。它能夠為工業應用提供長期穩定的輻射輸出，用于在環境溫度為-20至85°C之間控制和監測過程氣體。

硅濾波器優化了從紫外到15.5微米波長范圍內的輻射輸出。

作為SMD封裝，JSIR340特別適合自動拾放裝配和大批量生產。

我們紅外輻射源中使用的MEMS芯片包含一個多層熱板膜片，內含一個高溫穩定的金屬CMOSI層。發射器芯片的有效面積為2.2 x 2.2平方毫米，基于硅襯底并采用背刻蝕膜技術。所有薄膜工藝均采用標準MEMS工藝和CMOS兼容材料完成。活性C-MOSI電阻層免受老化和環境影響。

應用

l非色散紅外氣體檢測

l衰減全反射光譜法

l直接紅外光譜法

l光聲光譜法

目標氣體

l二氧化碳（CO2）

l甲烷（CH4）

l丙烷（C3H8）

l乙醇（C2H5OH）

l其他紅外活性氣體

特點

l成本效益高的組件

l標準MEMS技術

lCMOS兼容制造工藝

l有效的自動化裝配工藝，采用SMD封裝

l熱板溫度高達740°C

l適當的輻射輸出

l由于熱質量低，調制深度高

技術參數

1. 額定功率下的單位

2. 25°C - 700°C

3. 功率開啟狀態

4. 帶有25Ω熱電阻

5. 環境溫度為25°C時

6. 通過紅外相機（0.7-1.1μm）測量的熱點溫度降低10%后的溫度分布平均值

7. 連續模式下，平均排除故障時間（MTTF）為63%（膜斷裂，基于阿倫尼烏斯定律的計算值）

8. 包括環境溫度

典型操作特性

電氣示意圖

電路

等效電路圖

機械制圖

TO39底部

SMD底部

截面圖-TO39 reflector open

截面圖-SMD with filter

產品概述