教你超聲波直探頭斜探頭雙晶探頭如何進(jìn)行校準(zhǔn),太全了!
閱讀:8463 發(fā)布時(shí)間:2020-11-3
超聲波檢測(cè)中聲速和直探頭斜探頭雙晶探頭零點(diǎn)校準(zhǔn)是因?yàn)闋顟B(tài)行所顯示參數(shù)的計(jì)算都是與聲速和探頭零點(diǎn)相關(guān),所以在探傷前請(qǐng)務(wù)必校準(zhǔn);聲程校準(zhǔn)是為了使屏幕上顯示適當(dāng)聲程范圍內(nèi)的波形,以便更好地判斷、評(píng)價(jià)缺陷。
一、直探頭斜探頭雙晶探頭之直探頭校準(zhǔn)(單晶探頭)
根據(jù)聲速和探頭零點(diǎn)的已知情況,確定校準(zhǔn)步驟。若聲速未知,則應(yīng)*行聲速校準(zhǔn);若聲速已知,則跳過(guò)聲速校準(zhǔn),調(diào)節(jié)聲速為已知聲速后用一點(diǎn)法進(jìn)行探頭零點(diǎn)校準(zhǔn)。
1、已知材料聲速校準(zhǔn)
步驟:
(1)材料聲速設(shè)置為已知材料聲速,
(2)把探頭耦合到校準(zhǔn)試塊上,
(3)設(shè)定閘門(mén)邏輯為單閘門(mén)方式,即設(shè)為進(jìn)波報(bào)警或失波報(bào)警邏輯,把閘門(mén)套住一次回波,此時(shí)聲程測(cè)量的就是一次回波處的聲程,
(4)調(diào)節(jié)探頭零點(diǎn),使得狀態(tài)行的聲程測(cè)量值(S)與試塊的已知厚度相同,此時(shí)所得到的探頭零點(diǎn)就是該探頭的準(zhǔn)確探頭零點(diǎn)。
2、未知材料聲速校準(zhǔn)
步驟:
(1)先初步設(shè)定一大概的聲速值;
(2)調(diào)節(jié)閘門(mén)邏輯為雙閘門(mén)方式;
(3)將探頭耦合到一個(gè)與被測(cè)材料相同且厚度已知的試塊上;
(4)移動(dòng)閘門(mén)A的起點(diǎn)到一次回波并與之相交,調(diào)節(jié)閘門(mén)A的高度低于一次回波高幅值至適當(dāng)位置,閘門(mén)A不能與二次回波相交;
(5)移動(dòng)閘門(mén)B的起點(diǎn)到二次回波并與之相交,調(diào)節(jié)閘門(mén)B的高度低于二次回波高幅值至適當(dāng)位置,閘門(mén)B不能與一次回波相交;
(6)調(diào)節(jié)聲速,使得狀態(tài)行顯示的聲程測(cè)量值(S)與試塊實(shí)際厚度相同,此時(shí),所得到的聲速就是這種探傷條件下的準(zhǔn)確聲速值。
(7)設(shè)定閘門(mén)邏輯為單閘門(mén)方式,即設(shè)為進(jìn)波報(bào)警或失波報(bào)警邏輯,此時(shí)聲程測(cè)量的就是一次回波處的聲程;
(8)調(diào)節(jié)探頭零點(diǎn),使得狀態(tài)行的聲程測(cè)量值(S)與試塊的已知厚度相同,此時(shí)所得到的探頭零點(diǎn)就是該探頭的準(zhǔn)確探頭零點(diǎn)。
材料聲速未知,設(shè)置接近的材料聲速為5920m/s,設(shè)置閘門(mén)邏輯為雙閘門(mén)方式,同時(shí)探頭零點(diǎn)設(shè)置為0;將探頭耦合到50mm的標(biāo)定試塊上,并將閘A門(mén)調(diào)到與一次回波相交的位置,將B閘門(mén)調(diào)到與二次回波相交的位置;
二、直探頭斜探頭雙晶探頭之雙晶探頭校準(zhǔn)增加聲速值,直到一、二次回波間聲程顯示的值為50mm,現(xiàn)在便測(cè)得了材料的準(zhǔn)確聲速是6024m/s;再將閘門(mén)設(shè)置為單閘門(mén)方式,測(cè)量一次回波處的聲程,連續(xù)調(diào)節(jié)探頭零點(diǎn)直到一次回波處測(cè)得的聲程值為50mm,現(xiàn)在便測(cè)得了探頭零點(diǎn)為0.125us。
校準(zhǔn)步驟:
(1)在收發(fā)組內(nèi)設(shè)置雙探頭狀態(tài);
(2)依照當(dāng)前測(cè)試任務(wù)和選用探頭設(shè)置好聲程、收發(fā)組各功能項(xiàng)目;
(3)將探頭耦合到標(biāo)定試塊上,調(diào)節(jié)基本組中的探頭零點(diǎn)直到標(biāo)定回波接近要求的位置,同時(shí)二次回波也在顯示范圍之內(nèi);
(4)調(diào)節(jié)增益值直到幅值大的回波接近全屏高度;
(5)在閘門(mén)組內(nèi)打開(kāi)雙閘門(mén);
(6)在設(shè)置功能組選擇前沿測(cè)量方式;
(7)移動(dòng)閘門(mén)A的起點(diǎn)到一次回波并與之相交,閘門(mén)A不能與二次回波相交;
(8)移動(dòng)閘門(mén)B的起點(diǎn)到二次回波并與之相交,閘門(mén)B不能與一次回波相交;
(9)調(diào)整閘門(mén)高度,使其位于兩個(gè)校準(zhǔn)回波前沿的相同位置;
(10)然后改變聲速,直至顯示出標(biāo)定試塊的厚度值;
(11)設(shè)定閘門(mén)邏輯為單閘門(mén)方式,即設(shè)為進(jìn)波報(bào)警或失波報(bào)警邏輯,此時(shí)聲程測(cè)量的就是一次回波處的聲程;
(12)調(diào)節(jié)探頭零點(diǎn),使得狀態(tài)行的聲程測(cè)量值與試塊的已知厚度相同。
三、直探頭斜探頭雙晶探頭之斜探頭校準(zhǔn)
1、校準(zhǔn)入射點(diǎn)(探頭前沿):用IIW試塊(又稱荷蘭試塊)或CSK-IA試塊測(cè)斜探頭零點(diǎn),將儀器聲速調(diào)節(jié)為3230m/s,顯示范圍為150mm,然后開(kāi)始測(cè)試,用戶如圖將探頭放在試塊上并移動(dòng),使得R100mm的圓弧面的反射體回波達(dá)到高,用直尺量出探頭前端面和試塊R100mm弧圓心距離,此值即為該探頭的前沿值,R100mm弧圓心對(duì)應(yīng)探頭上的位置即為探頭入射點(diǎn)。斜探頭校準(zhǔn)通常需要以下步驟:1、校準(zhǔn)入射點(diǎn)(探頭前沿);2、校準(zhǔn)探頭角度(K值);3、校準(zhǔn)材料聲速;4校準(zhǔn)探頭零點(diǎn)。
2、校準(zhǔn)探頭角度(K值):用角度值標(biāo)定的探頭可用IIW試塊校準(zhǔn),如果是用K值標(biāo)定的探頭,可用CSK-IA試塊校準(zhǔn)。這兩種試塊上有角度或K值的標(biāo)尺,按探頭標(biāo)稱值選擇合適的標(biāo)尺(右圖所示,在IIW試塊上側(cè)可校準(zhǔn)60-76度的探頭,下側(cè)可校準(zhǔn)74-80度的探頭,CSK-IA試塊上側(cè)可校準(zhǔn)K2.0、K2.5、K3.0的探頭,下側(cè)可校準(zhǔn)K1.0、K1.5的探頭。請(qǐng)按試塊上的標(biāo)定值選擇用合適的校準(zhǔn)試塊及校準(zhǔn)方法)。如圖放置探頭,左右移動(dòng)使得反射體回波達(dá)到高,此時(shí)入射點(diǎn)對(duì)應(yīng)的刻度就是探頭的角度或K值。
3、校準(zhǔn)材料聲速按照1中所述找到R100mm的高反射波,調(diào)節(jié)顯示范圍使得屏幕上能顯示該弧面的二次回波,選擇閘門(mén)方式為雙閘門(mén),調(diào)節(jié)A閘門(mén)與一次回波相交,調(diào)節(jié)B閘門(mén)與二次回波相交,調(diào)節(jié)聲速值使得狀態(tài)行中聲程測(cè)量值(S)為100,此時(shí)得到的聲速值即為該材料的實(shí)際聲速值。
4、校準(zhǔn)探頭零點(diǎn)保持上面的測(cè)量狀態(tài),將閘門(mén)方式改為正或負(fù),調(diào)節(jié)探頭零點(diǎn)使得狀態(tài)行中聲程測(cè)量值(S)再次為100,此時(shí)得到的探頭零點(diǎn)值即為該探頭的零點(diǎn)值。
斜探頭的校準(zhǔn)方法有很多,并不*拘泥于用標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行校準(zhǔn),也可以用已知深度的小孔進(jìn)行校準(zhǔn),理論上參考反射體越小,校準(zhǔn)的精度越高,但校準(zhǔn)的難度也相應(yīng)的加大。用小孔校準(zhǔn)時(shí)可通過(guò)測(cè)量小孔的深度和水平位置,計(jì)算斜率來(lái)校準(zhǔn)角度,并利用測(cè)得的深度或水平位置值校準(zhǔn)聲速和探頭零點(diǎn)。