12、為什么高速計數器不能正常工作?在程序中要使用初次掃描存儲器位SM0.1來調用HDEF指令，而且只能調用一次。如果用SM0.0調用或者第二次執行HDEF指令會引起運行錯誤，而且不能改變次執行HDEF指令時對計數器的設定13、高速計數器如何尋址?為什么從SMDx中讀不出當前的計數值。

　　歐系PLC的公共端一般是-，大多選用PNP的傳感器接入信號。如S7-200/300等那么當S7-200PLC做系統時候，提供的傳感器有PNP和NPN兩種那么問題怎么解決呢。原因很簡單，200PLC支持兩種信號接入，內部是雙向二極管采用光電隔離進行信號傳輸的。
　　11、高速計數器怎樣占用輸出點。高速計數器根據被定義的工作模式，按需要占用CPU上的數字量輸入點。每一個計數器都按其工作模式占用固定的輸入點。在某個模式下沒有用到的輸入點，仍然可以用作普通輸入點；被計數器占用的輸入點（如外部復位），在用戶程序中仍然訪問到。

西門子6ES7211-0BA23-0XB0分類 　西門子電機軟啟動器的常見故障
 1、電動機起不來
  電動機起不來的原因大致分兩種情況：一是六只可控硅的其中一只觸發不可靠或是不導通，此時一相電路通過的是半波直流，電動機的兩相繞組通過的直流對電動機起到了制動作用，不僅電機起不來，嚴重的還會燒毀電機和可控硅。二是啟動參數或啟動曲線不合適造成電機起不來，這是常見故障。前者在使用過程當中會發生，但幾率低于接觸器的故障率。后者多發生在次投運調試，調試好以后就不會出現。多數的廠家不會出現此現象，啟動程序性能好，出廠值設定的適用性強。只有很少廠家的產品需要廠家自己去調試。 

可控硅燒毀
  可控硅擊穿或，此類故障不分品牌，因廠家而易，但都比接觸器的故障率低，而且主要問題出現在餅式可控硅的安裝工藝上。
3、控制器燒損
  相對于軟啟動器來講，控制器燒毀故障是嚴重的。有的廠家此類故障造成的返修率已超過30%。進口的或合資的廠家此類問題不多見。主要是控制器的電源和觸發電路以及輸入電路三部分容易燒毀。。
　　符合上述要求就可以做到非?？煽康耐ㄓ?。實際上，有用戶做到了超過50m距離而不加中繼器的通訊。西門子不能保證這樣的通訊一定成功。4、通訊口參數如何設置。5、M區域地址不夠用怎么辦。有些用戶習慣使用M區作為中間地址，但S7-200CPU中M區地址空間很小，只有32個字節，往往不夠用。
　　而S7-200CPU中提供了大量的V區存儲空間，即用戶數據空間。V存儲區相對很大，其用法與M區相似，可以按位、字節、字或雙字來存取V區數據。例：V10.1，VB20，VW100，VD200等等。6、S7-200的遠距離通訊有哪些方式。


　　西門子PLC控制變頻器運行的3種關鍵方法隨著工業自動化設備的使用率提升，各種工控設備的維護及使用方式尤其講究，在工業自動化控制系統中，為常見的是PLC和變頻器的組合應用，PLC控制變頻器的方式有幾種，接下來就重點介紹3種應用。
　　1，通訊的方式。而通訊的方式呢現在常見的是Profibus-DP的方式。這需要變頻器支持這種通訊方式，一般是需要附加訂一個DP通訊板（硬件）安裝在變頻器上面，當然也有通訊板外置然后通過光纖與變頻器的控制單元連接的如ABB的NPBA-12通訊模塊。

　　如果PLC通過與變頻器進行通訊來進行信息交換，可以有效地解決上述問題，通訊方式使用的硬件少，傳送的信息量大，速度快，等特點可以有效地解決上述問題，另外，通過網絡，可以連續地對多臺變頻器進行監視和控制，實現多臺變頻器之間的聯動控制和同步控制，通過網絡還可以實時的調整變頻器的參數。

西門子6ES7211-0BA23-0XB0分類 軟啟動器誤動作
電動機在運行的裝態下因軟起動器受干擾而停機在停止狀態下因軟起動器受干擾而起動是時有發生，前者較普遍，后者只有兩個品牌發生過。究其原因，一是產品質量問題，二是和線路布局有關。但是凡是進口或合資的軟啟都沒有上述現象，國產品牌中此問題比較多。
  5、軟啟動器內部插接件接觸不良
  軟啟動器內部插接件選用本來不是問題，這是國內廠家容易忽略的問題，經常出現故障。進口或合資廠家都不犯此類的錯誤。

　　4：運行指示燈，是判斷PLC運行正常與否的主要依據。西門子S7-200在正常運行當中只有RUN燈（綠燈）亮，停止狀態只有STOP燈（黃燈）亮，如果有故障燈（紅燈）亮起，說明此時PLC已經出現硬件故障或軟件故障。 也就是說，壓痕接觸面積愈大，超聲硬度計的示值愈低。而非壓痕接觸大大地增加了壓頭與被測表面的接觸面積，致使硬度計示值偏低于真實值。試驗證明，洛氏硬度測量偏差在10HRC左右；布氏硬度測量偏差在20HB左右。解決辦法：在測量試樣硬度時，我們必須注意被測表面粗糙度是否符合硬度計的檢測條件。在正常使用硬度計的條件下，必須保證試樣的被測表面粗糙度值小于或等于Ra=0.8μm，若試樣的被測表面粗糙度值大于Ra=0.8μm，可以通過機械方法（上磨床）或手工方法，對被測表面進行研磨修整，法國凱茂KIMO使試樣的被測表面粗糙度達到檢側條件。