詳細介紹
商品名稱: | 低阻抗率計 MCP-T370型 (手提式) Loresta-AX |
特色: | 維持安定之高質量,依據之四探針理論之高精度之阻抗率計 操作簡單,現場使用攜帶型方便,用于生產技術、質量管理 |
測定范圍: | 10-2~106Ω |
資料輸出: | USB Memory |
體積: | 約 228 W× 85 D× 65 Hmm, 420g |
標準配備 | ||
ASP探頭 MCP-TPO3P《四探針探頭》 利用價值廣泛標準探頭JIS K7194對應, Pin間 5mm,Pin尖 0.37R×4支,壓力 210g/支, 尺寸 35W×20L×35Hmm | ||
MCP-TA06 充電器 | ||
選購品 | |
ESP探頭 MCP-TPO8P《四探針探頭》 不均樣品用 Pin間 5mm,Pin尖 ? 2×4支,壓力 240g/支, 尺寸 35W×20L×35Hmm | |
PSP探頭 MCP-TPO6P《四探針探頭》 小樣品或薄膜用 Pin間 1.5mm,Pin尖 0.26R×4支,壓力 70g/支, 尺寸 ? 10-20× L112mm | |
QPP探頭 MCP-TPQPP《四探針探頭》 微小樣品用 Pin間 1.5mm,Pin尖 0.26R×4支,壓力 70g/支, 尺寸 ? 10-20× L112mm | |
NSCP探頭 MCP-NSCP《四探針探頭, 特殊用探頭》 Silicone wafer用 Pin間 1.0mm,Pin尖 0.04R×4支,壓力 250g/支 | |
BSP探頭 MCP-TPO5P《四探針探頭, 特殊用探頭》 大樣品用 Pin間 2.2mm,Pin尖 0.37R×4支,壓力 210g/支 | |
TFP探頭 MCP-TFP《四探針探頭, 特殊用探頭》 Silicone wafer或玻璃基板上之薄膜用 Pin間 1.0mm,Pin尖 0.15R×4支,壓力 50g/支 | |
AP探頭 MCP-TPAP《二探針探頭》 標準樣式 Pin間 10mm,Pin尖 ? 2×2支,壓力 240g/支 | |
BP探頭 MCP-TPBP《二探針探頭》 大樣品用 Pin尖 ? 2×2支,壓力 240g/支 | |
MCP-TRF1探頭檢驗片 ASP, ESP探頭用 (探頭檢驗片于測定檢查之) | |
MCP-TRPS 探頭檢驗片 PSP探頭用 (探頭檢驗片于測定檢查之) | |
MCP-TRTF 探頭檢驗片 TFP, NSCP探頭用 (探頭檢驗片于測定檢查之) |