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阻抗率計自動測繪系統 詳細摘要: 阻抗率計自動測繪系統 MCP-S330特色:精確測量表面電阻率[Ω/ sq?]和體積電阻率[Ω/ cm?]不受樣本形狀的影響。導電膜,金屬,金屬薄膜等的厚度和成...
產品型號:MCP-S330 所在地:武漢市 更新時間:2024-05-30 參考價: 面議 在線留言
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詳細摘要: 阻抗率計自動測繪系統 MCP-S330特色:精確測量表面電阻率[Ω/ sq?]和體積電阻率[Ω/ cm?]不受樣本形狀的影響。導電膜,金屬,金屬薄膜等的厚度和成...
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