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三維表面測量系統
三維表面測量系統布魯克NPFLEX三維表面測量系統為大樣品的表面表征測量提供了靈活的非接觸式的方案,超過300度的測量空間,克服了以往由于零件某些角度或取向問題...
型號: NP Flex
所在地:上海市
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面議更新時間:2023/5/22 18:19:37
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表面輪廓儀臺式輪廓儀布魯克輪廓儀DEKTAK XT輪廓儀輪廓分析儀
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直讀光譜儀
直讀光譜儀用于金屬材料分析的全譜直讀光譜儀它具備良好分析性能、使用方便,是一種基于 CCD 檢測器的金屬材料分析全譜直讀光譜儀。
型號: Q4 TASMAN
所在地:上海市
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面議更新時間:2023/5/22 17:47:56
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直讀光譜儀布魯克光譜儀進口光譜儀臺式光譜儀火花光譜儀
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光學輪廓儀系統
光學輪廓儀系統?光學輪廓儀系統適用于科研和生產的高質量表面測量手段ContourGT-I3D光學顯微鏡將三十多年表面測量經驗和技術融合到單一平臺上,實現調整校準...
型號: ContourGT...
所在地:上海市
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面議更新時間:2023/5/22 17:41:37
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表面輪廓儀臺式輪廓儀布魯克輪廓儀DEKTAK XT輪廓儀光學輪廓分析儀
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輕便型直讀光譜儀Q2 ION
輕便型直讀光譜儀Q2 IONBruker設計的直讀光譜儀Q2 ION是現今市場上輕便的直讀光譜儀。Q2可同時配備多種基體例如鐵、鋁和銅, 能夠很好地中小鑄造企業...
型號:
所在地:上海市
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面議更新時間:2023/5/22 17:24:24
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直讀光譜儀布魯克光譜儀進口光譜儀臺式光譜儀火花光譜儀
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藝術與考古分析儀
藝術與考古分析儀TRACER 5i是Bruker公司2016年底新發布的科研型手持式XRF設備,也稱便攜式XRF。是繼原有Tracer家族系列后, Bruker...
型號: Tracer
所在地:上海市
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面議更新時間:2023/5/22 17:10:02
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能量色散X射線譜儀X射線熒光光譜儀礦山分析儀重金屬分析儀考古分析儀
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涂層測厚儀SURFIX®系列
涂層測厚儀SURFIX®系列用于鋼/鐵以及有色金屬的清漆、油漆和電鍍涂層的測量
型號:
所在地:上海市
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面議更新時間:2023/5/22 16:58:10
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X射線熒光測厚儀鍍層測厚儀布魯克測厚儀進口鍍層測厚儀光學測厚儀
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哈氏槽
哈氏槽黃銅片,陽塊,鎳陽,波紋吸盤,哈氏槽,磷銅陽,純錫陽,整流器,哈氏片
型號:
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面議更新時間:2023/5/22 15:26:50
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哈氏槽整流器磷銅陽純錫陽波紋吸盤
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微聚焦熒光光譜儀M6 JETSTREAM
微聚焦熒光光譜儀M6 JETSTREAMM6 JETSTREAM可以分析水平放置的樣品,還可以分析垂直放置的樣品。
型號:
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面議更新時間:2023/5/22 15:09:04
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能量色散X射線譜儀X射線熒光光譜儀礦山分析儀重金屬分析儀考古分析儀
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直讀光譜儀
直讀光譜儀Q8MAGELLAN 是一款具備技術、靈活性和操作便利性的火花直讀光譜儀。它是一款采用通道光電倍增管技術、數字等離子發生器、單火花和時間分辨率并配有免...
型號: Q8 MAGELL...
所在地:上海市
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面議更新時間:2023/5/22 14:57:34
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直讀光譜儀布魯克光譜儀進口光譜儀臺式光譜儀火花光譜儀
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納米力學測試系統
納米力學測試系統布魯克的海思創TI 980 TriboIndenter同時具有高的性能、靈活性、可信度、實用性和速度。基于海思創幾十年的技術,他為納米力學表征帶...
型號: TI 980
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面議更新時間:2023/5/22 13:34:06
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納米粒度儀納米力學儀納米測試儀納米分析儀納米力學系統
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摩擦磨損儀
摩擦磨損儀布魯克UMT摩擦磨損儀由于其良好的兼容新和多模塊化設計得到了市場。良好的設備兼容性設計理念,可以使一個樣品在同一個實驗設備上實現多種性能表征,大大節省...
型號: CETR-UMT
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面議更新時間:2023/5/22 13:27:13
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磨損試驗機摩擦磨損儀UMT摩擦磨損儀布魯克磨損儀進口磨損儀
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TXRF全反射X射線熒光光譜儀S4 TSTAR
TXRF全反射X射線熒光光譜儀S4 TSTAR數十年來,X 射線熒光(XRF)光譜法在多個行業中被廣泛用于對固體和石油化工樣品進行元素分析,檢測限值低于PPb ...
型號:
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面議更新時間:2023/5/22 12:12:49
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能量色散X射線譜儀X射線熒光光譜儀礦山分析儀重金屬分析儀考古分析儀
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貴金屬檢測
貴金屬檢測采用了具有布魯克SharpBeam™優化檢測器,S1TITAN運行時功率很低,從而大大使電池壽命增加。S1TITAN較寬的元素范圍使它適合...
型號: S1 TITAN
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面議更新時間:2023/5/22 12:02:49
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廢舊金屬光譜儀X射線熒光光譜儀礦山XRF分析儀合金分析儀熒光成像光譜儀
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涂層測厚儀
涂層測厚儀PHYNIX涂層測厚儀也被用于許多研究機構和實驗室,例如為了開發新的涂層和鍍膜方法。是眾多對我們設備的測量精度充滿信心的原因所在。
型號: M2 BLIZZA...
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面議更新時間:2023/5/22 11:33:23
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X射線熒光測厚儀鍍層測厚儀布魯克測厚儀進口鍍層測厚儀光學測厚儀
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金屬回收檢測儀
金屬回收檢測儀手持式X射線熒光光譜儀(俗稱手持金屬成份分析儀)是金屬回收、再利用中的常用設備。布魯克手持光譜儀采用了現代SDD(硅漂移探測器)技術,與傳統的基于...
型號: S1 TITAN
所在地:上海市
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面議更新時間:2023/5/22 10:29:06
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廢舊金屬光譜儀X射線熒光光譜儀礦山XRF分析儀合金分析儀熒光成像光譜儀
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大尺寸鍍層測厚儀
大尺寸鍍層測厚儀M2 BLIZZARD是布魯克公司推出的一款微區X射線熒光光譜儀,依據ASTMB568和DIN/ISO 3497,對材料成分和多層涂層厚度進行無...
型號: M2 BLIZZA...
所在地:上海市
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面議更新時間:2023/5/22 10:14:49
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X射線熒光測厚儀鍍層測厚儀布魯克測厚儀進口鍍層測厚儀光學測厚儀
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薄膜應力及基底翹曲測試設備
薄膜應力及基底翹曲測試設備 FSM推出基于商業化應用的激光掃描光學杠桿(Optilever)技術,主要應用于薄膜應力和晶圓彎曲測量。該設備頻繁使用在分析解決諸如...
型號:
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面議更新時間:2023/5/22 10:08:02
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薄膜應力測試儀晶元彎曲測試儀基底翹曲分析儀薄膜裂紋測試儀半導體薄膜分析
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原子力顯微鏡Dimension FastScan
原子力顯微鏡Dimension FastScanDimensionFastScan原子力顯微鏡(AFM)在不損失Dimension®Icon®...
型號:
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面議更新時間:2023/5/22 9:50:16
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原子力顯微鏡原子力顯微鏡探針布魯克探針顯微鏡探針針尖納米壓痕探針
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能量色散X射線熒光光譜儀
能量色散X射線熒光光譜儀能量色散X射線熒光光譜儀主要用途包括兩個方面,元素成分定性及定量分析、涂覆層厚度分析。
型號: ELIO
所在地:上海市
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面議更新時間:2023/5/19 18:43:21
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能量色散X射線譜儀X射線熒光光譜儀礦山分析儀重金屬分析儀考古分析儀
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手持式油品分析儀S1 TITAN
手持式油品分析儀S1 TITAN Bruker手持式油品分析儀CTX™800/600以及S1TITAN600/800配置的MetalinOil曲線能...
型號:
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面議更新時間:2023/5/19 17:44:12
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土壤重金屬分析儀X射線熒光光譜儀礦山分析儀重金屬分析儀油品分析儀