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OXFORD-243E型涂鍍層測厚儀

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  • OXFORD-243E型涂鍍層測厚儀
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具體成交價以合同協議為準
  • 型號
  • 品牌 Hitachi/日立
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 深圳市
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更新時間:2017-05-21 16:43:05瀏覽次數:696

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產品簡介

OXFORD-243E型涂鍍層測厚儀技術參數技術參數及功能:準確度:相對標準片?%精確度:0.3%分辨率:0.1μm

詳細介紹

OXFORD-243E涂鍍層測厚儀測量范圍:

鐵上鍍層    鍍層厚度范圍     探頭

Zn            0–38μm       ECP-M

Cd            0–38μm       ECP-M

Cr            0–38μm      ECP-M

Cu            0–10μm      ECP-M

ECP-M探頭規格(mm)

***小凸面半徑  1.143  

***小凹面半徑  1.524

測量高度      101.6  

***小測量直徑  2.286

底材***小      304.8

OXFORD-243E涂層測厚儀標準配置

OXFORD-243E

標準配置

OXFORD-243E涂層測厚儀主機;

ECP-M探頭及拆除指南;

Rs232串行電纜;

校準用鐵上鍍鋅標準片組。

OXFORD-243E涂層測厚儀可選配

 OXFORD-243E

OXFORD-243E型涂鍍層測厚儀技術參數

技術參數及功能:

準確度:相對標準片±3%

精確度:0.3%

分辨率:0.1μm

  電渦流:遵循DIN50984, BS5411 Part 3, ISO 2360, ISO 21968草案, ASTM B499,及ASTM E376

存儲量:26,500 條存儲讀數

  尺寸:14.9 x 7.94 x 3.02 cm

  重量:0.26 kg 包括電池

  單位:英制和公制的自動轉換

  接口:RS-232串行接口,波特率可調,用于下載至打印機或計算機

  顯示屏:三位數LCD液晶顯示

  電池:9伏堿性電池,65小時連續使用

*的ECP-M探頭

     ECP-M探頭專為較難測量的金屬覆層設計,此單探頭可以測量

鐵質底材上幾乎所有金屬覆層,例如鋅、鎳、銅、鉻和鎘。更小的探

針為極小的、形狀特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的測量。

OXFORD-243E型涂鍍層測厚儀功能與特點

測量技術:

    一般的測試方法,例如一般測厚儀制造商所采用的普通磁感應和渦流方式,由于探頭的" 升離效應" 導致的底材效應,和由于測試件形狀和結構導致的干擾,都無法達到對金屬性鍍層厚度的精確測量。

    牛津儀器將的基于相位的電渦流技術應用到OXFORD-243E,使其達到了±3%以內(對比標準片)的準確度和0.3% 以內的精確度。

     牛津儀器對電渦流技術的*應用,將底材效應***小化,使得測量精準且不受零件的幾何形狀影響。

  另外,儀器一般不需要在鐵質底材上進行校準

 

OXFORD-243E高精度涂層測厚儀優勢:

1、采用基于相位的電渦流技術,集測量精確、價格合理、質量可靠的優勢于一體的手持式測厚儀。

2、專為金屬表面處理者設計。配置的單探頭可測量,鐵質底上所有金屬鍍層-即使在極小的、形狀特殊的或表面粗糙的樣品上都可以進行測量。

3、易于用戶控制,并且可以同X線熒光測儀的準確性和精密性媲美。

4、為了讓客戶能以低成本購買OXFORD-243E免去了對多探頭、操作培訓和持續保養的需要。

 

 

可選配

可單獨選配SMTP-1(磁感應探頭)。

OXFORD-243E涂層測厚儀其它說明-細節圖展示-牛津涂層標準樣樣塊-探頭

牛津儀器公司提供可靠的高一般的測試方法,例如一般測厚儀制造商所采用的普通磁感應和渦流方式,由于探頭的" 升離效應" 導致的底材效應,和由于測試件形狀和結構導致的干擾,都無法達到對金屬性鍍層厚度的精確測量。

        牛津儀器將的基于相位的電渦流技術應用到OXFORD-243E,使其達到了±3%以內(對比標準片)的準確度和0.3% 以內的精確度。牛津儀器對電渦流技術的*應用,將底材效應***小化,使得測量精準且不受零件的幾何形狀影響。另外,儀器一般不需要在鐵質底材上進行校準。

   ECP-M探頭專為較難測量的金屬覆層設計,此單探頭可以測量鐵質底材上幾乎所有金屬覆層,例如鋅、鎳、銅、鉻和鎘。更小的探針為極小的、形狀特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的測量。

 涂層測厚儀· 產品list

  • 涂層測厚儀TT210;
  • 涂層測厚儀TT220;
  • 涂層測厚儀TT220G;
  • 涂層測厚儀TT230;
  • 涂層測厚儀TT230G;
  • 涂層測厚儀TT240;
  • 涂層測厚儀TT260;
  • 涂層測厚儀TT270。

涂層測厚儀· 探頭參數表

探頭F400F1F1/90F10N1CN02
工作原理磁感應電渦流
測量范圍(um)0-4000-12500-100000-1250(銅上鍍鉻0-40um)10-200
低限分辨力(um)0.10.1100.11
示值誤差一點校準(um)±[3%H+1]±[3%H+10]±[3%H+1.5]±[3%H+1]
兩點校準(um)±[(1~3)%H+0.7]±[(1~3)%H+1]±[(1~3)%H+10]±[(1~3)%H+1.5]-
測量條件***小曲率半徑(mm)凸 1凸1.5平直103平直
基體***小面積的直徑(mm)ф3ф7ф7ф40ф5ф7
***小臨界厚度(mm)0.20.50.520.3無限制

涂層測厚儀· 探頭選擇參考表

基體與覆蓋層有機材料等非磁性覆蓋層
(
如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽極化處理等)
非磁性的有色金屬覆蓋層
(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)
覆蓋層厚度
不超過100µm
覆蓋層厚度
超過100µm
覆蓋層厚度
不超過100µm
覆蓋層厚度
超過100µm
磁性金屬
如 鐵、鋼 等
被測面積的直徑
大于30mm
F400 型測頭 0~400µm
F1 型測頭 0~1250µm
F1 型測頭 0~1250µm
F10 型測頭 0~10mm
F400 型測頭 0~400µm
F1 型測頭 0~1250µm
F1 型測頭 0~1250µm
F10 型測頭 0~10mm
被測面積的直徑
小于30mm
F400 型測頭 0~400µmF400 型測頭 0~400µm
F1 型測頭 0~1250µm
F400 型測頭 0~400µmF400 型測頭 0~400µm
F1 型測頭 0~1250µm
有色金屬
如銅 、鋁 、黃銅 、鋅 、錫 等
被測面積的直徑
大于5mm
N1 型測頭 0~1250µm僅用于銅上鍍鉻N1 型測頭 0~40µm
非金屬基體
塑料、印刷線路
被測面積的直徑
大于7mm
--CN02 型測頭10~200µm

F型(磁感應):
測量鋼、鐵等鐵磁性金屬基體上的非磁性涂鍍層的厚度,如:油漆、粉末、各種防腐涂層、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、錫、鎘等;
N型(電渦流):
測量銅、鋁、不銹鋼等非鐵磁性基體上的所有非導電層的厚度,如:油漆、粉末、各種防腐涂層、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、氧化層等;
F/NF型:
它是以上F型和N型的組合。

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