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詳細(xì)介紹
OXFORD-243E涂鍍層測(cè)厚儀 功能與特點(diǎn)
測(cè)量技術(shù)：
一般的測(cè)試方法，例如一般測(cè)厚儀制造商所采用的普通磁感應(yīng)和渦流方式，由于探頭的" 升離效應(yīng)" 導(dǎo)致的底材效應(yīng)，和由于測(cè)試件形狀和結(jié)構(gòu)導(dǎo)致的干擾，都無(wú)法達(dá)到對(duì)金屬性鍍層厚度的精確測(cè)量。
牛津儀器將的基于相位的電渦流技術(shù)應(yīng)用到OXFORD-243E,使其達(dá)到了±3%以內(nèi)（對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)片）的準(zhǔn)確度和0.3% 以內(nèi)的精確度。
牛津儀器對(duì)電渦流技術(shù)的*應(yīng)用，將底材效應(yīng)***小化，使得測(cè)量精準(zhǔn)且不受零件的幾何形狀影響。
另外，儀器一般不需要在鐵質(zhì)底材上進(jìn)行校準(zhǔn)
OXFORD-243E涂鍍層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
技術(shù)參數(shù)及功能：
準(zhǔn)確度：相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)片±3%
精確度：0.3%
分辨率：0.1μm
電渦流：遵循DIN50984, BS5411 Part 3, ISO 2360, ISO 21968草案, ASTM B499,及ASTM E376
存儲(chǔ)量：26,500 條存儲(chǔ)讀數(shù)
尺寸：14.9 x 7.94 x 3.02 cm
重量：0.26 kg 包括電池
單位：英制和公制的自動(dòng)轉(zhuǎn)換
接口：RS-232串行接口，波特率可調(diào)，用于下載至打印機(jī)或計(jì)算機(jī)
顯示屏：三位數(shù)LCD液晶顯示
電池：9伏堿性電池，65小時(shí)連續(xù)使用
*的ECP-M探頭
ECP-M探頭專(zhuān)為較難測(cè)量的金屬覆層設(shè)計(jì)，此單探頭可以測(cè)量
鐵質(zhì)底材上幾乎所有金屬覆層，例如鋅、鎳、銅、鉻和鎘。更小的探
針為極小的、形狀特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的測(cè)量。
測(cè)量范圍：
鐵上鍍層 鍍層厚度范圍 探頭
Zn 0–38μm ECP-M
Cd 0–38μm ECP-M
Cr 0–38μm ECP-M
Cu 0–10μm ECP-M
ECP-M探頭規(guī)格(mm)
***小凸面半徑 1.143
***小凹面半徑 1.524
測(cè)量高度 101.6
***小測(cè)量直徑 2.286
底材***小 304.8
OXFORD-243E涂層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置
OXFORD-243E
標(biāo)準(zhǔn)配置
OXFORD-243E涂層測(cè)厚儀主機(jī)；
ECP-M探頭及拆除指南；
Rs232串行電纜；
校準(zhǔn)用鐵上鍍鋅標(biāo)準(zhǔn)片組。
OXFORD-243E涂層測(cè)厚儀可選配
OXFORD-243E
優(yōu)勢(shì)：
1、采用基于相位的電渦流技術(shù)，集測(cè)量精確、價(jià)格合理、質(zhì)量可靠的優(yōu)勢(shì)于一體的手持式測(cè)厚儀。
2、專(zhuān)為金屬表面處理者設(shè)計(jì)。配置的單探頭可測(cè)量，鐵質(zhì)底上所有金屬鍍層-即使在極小的、形狀特殊的或表面粗糙的樣品上都可以進(jìn)行測(cè)量。
3、易于用戶控制，并且可以同X線熒光測(cè)儀的準(zhǔn)確性和精密性媲美。
4、為了讓客戶能以低成本購(gòu)買(mǎi)OXFORD-243E免去了對(duì)多探頭、操作培訓(xùn)和持續(xù)保養(yǎng)的需要。
可選配
可單獨(dú)選配SMTP-1(磁感應(yīng)探頭)。
OXFORD-243E涂層測(cè)厚儀其它說(shuō)明-細(xì)節(jié)圖展示-牛津涂層標(biāo)準(zhǔn)樣樣塊-探頭
牛津儀器公司提供可靠的高一般的測(cè)試方法，例如一般測(cè)厚儀制造商所采用的普通磁感應(yīng)和渦流方式，由于探頭的" 升離效應(yīng)" 導(dǎo)致的底材效應(yīng)，和由于測(cè)試件形狀和結(jié)構(gòu)導(dǎo)致的干擾，都無(wú)法達(dá)到對(duì)金屬性鍍層厚度的精確測(cè)量。
牛津儀器將的基于相位的電渦流技術(shù)應(yīng)用到OXFORD-243E,使其達(dá)到了±3%以內(nèi)（對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)片）的準(zhǔn)確度和0.3% 以內(nèi)的精確度。牛津儀器對(duì)電渦流技術(shù)的*應(yīng)用，將底材效應(yīng)***小化，使得測(cè)量精準(zhǔn)且不受零件的幾何形狀影響。另外，儀器一般不需要在鐵質(zhì)底材上進(jìn)行校準(zhǔn)。
ECP-M探頭專(zhuān)為較難測(cè)量的金屬覆層設(shè)計(jì)，此單探頭可以測(cè)量鐵質(zhì)底材上幾乎所有金屬覆層，例如鋅、鎳、銅、鉻和鎘。更小的探針為極小的、形狀特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的測(cè)量。
涂層測(cè)厚儀· 產(chǎn)品list
- 涂層測(cè)厚儀TT210；
- 涂層測(cè)厚儀TT220；
- 涂層測(cè)厚儀TT220G；
- 涂層測(cè)厚儀TT230；
- 涂層測(cè)厚儀TT230G；
- 涂層測(cè)厚儀TT240；
- 涂層測(cè)厚儀TT260；
- 涂層測(cè)厚儀TT270。
涂層測(cè)厚儀· 探頭參數(shù)表
| 探頭 | F400 | F1 | F1/90 | F10 | N1 | CN02 | |
| 工作原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | |||||
| 測(cè)量范圍（um） | 0-400 | 0-1250 | 0-10000 | 0-1250(銅上鍍鉻0-40um) | 10-200 | ||
| 低限分辨力(um) | 0.1 | 0.1 | 10 | 0.1 | 1 | ||
| 示值誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±[3%H+1] | ±[3%H+10] | ±[3%H+1.5] | ±[3%H+1] | ||
| 兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±[(1～3)%H+0.7] | ±[(1～3)%H+1] | ±[(1～3)%H+10] | ±[(1～3)%H+1.5] | - | ||
| 測(cè)量條件 | ***小曲率半徑(mm) | 凸 1 | 凸1.5 | 平直 | 10 | 3 | 平直 |
| 基體***小面積的直徑(mm) | ф3 | ф7 | ф7 | ф40 | ф5 | ф7 | |
| ***小臨界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 0.5 | 2 | 0.3 | 無(wú)限制 | |
涂層測(cè)厚儀· 探頭選擇參考表
| 基體與覆蓋層 | 有機(jī)材料等非磁性覆蓋層 (如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等) | 非磁性的有色金屬覆蓋層 (如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等) | |||
| 覆蓋層厚度 不超過(guò)100µm | 覆蓋層厚度 超過(guò)100µm | 覆蓋層厚度 不超過(guò)100µm | 覆蓋層厚度 超過(guò)100µm | ||
| 磁性金屬 如 鐵、鋼 等 | 被測(cè)面積的直徑 大于30mm | F400 型測(cè)頭 0～400µm F1 型測(cè)頭 0～1250µm | F1 型測(cè)頭 0～1250µm F10 型測(cè)頭 0～10mm | F400 型測(cè)頭 0～400µm F1 型測(cè)頭 0～1250µm | F1 型測(cè)頭 0～1250µm F10 型測(cè)頭 0～10mm |
| 被測(cè)面積的直徑 小于30mm | F400 型測(cè)頭 0～400µm | F400 型測(cè)頭 0～400µm F1 型測(cè)頭 0～1250µm | F400 型測(cè)頭 0～400µm | F400 型測(cè)頭 0～400µm F1 型測(cè)頭 0～1250µm | |
| 有色金屬 如銅 、鋁 、黃銅 、鋅 、錫 等 | 被測(cè)面積的直徑 大于5mm | N1 型測(cè)頭 0～1250µm | 僅用于銅上鍍鉻N1 型測(cè)頭 0～40µm | ||
| 非金屬基體 塑料、印刷線路 | 被測(cè)面積的直徑 大于7mm | - | - | CN02 型測(cè)頭10～200µm | |
F型（磁感應(yīng)）：
測(cè)量鋼、鐵等鐵磁性金屬基體上的非磁性涂鍍層的厚度，如：油漆、粉末、各種防腐涂層、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、錫、鎘等；
N型（電渦流）：
測(cè)量銅、鋁、不銹鋼等非鐵磁性基體上的所有非導(dǎo)電層的厚度，如：油漆、粉末、各種防腐涂層、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、氧化層等；
F/NF型：
它是以上F型和N型的組合。