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SPJD-1200型型四通道同屏高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量，并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。采用Labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測(cè)量參數(shù)等設(shè)置，符合壓電陶瓷與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。電壓、過(guò)電流、超溫等異常情況以保證測(cè)試過(guò)程的安全；資料保存機(jī)制，當(dāng)遇到電腦異常瞬時(shí)斷電可將資料保存于控制器中，不丟失試驗(yàn)數(shù)據(jù)，設(shè)備重新啟動(dòng)后可恢復(fù)原有試驗(yàn)數(shù)據(jù)。用于分析寬頻、高低溫條件下樣品的介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量，得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線。可廣泛應(yīng)用于鐵電壓電陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1、 提供多方位的測(cè)量功能和多元化的價(jià)位, 擁有更出色的測(cè)量精度:

匹配阻抗分析儀是采用自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測(cè)試儀器，其0.05%的基本精度、最快達(dá)5.6ms的測(cè)試速度、10Hz-300MHz的頻率范圍及高達(dá)1GΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響，將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。

2、 采用Labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測(cè)量參數(shù)等設(shè)置。自動(dòng)升溫降溫，測(cè)試功能強(qiáng)大

3、 四通道同時(shí)測(cè)量,提高效率,增加對(duì)比測(cè)試的精度;

材料與結(jié)構(gòu)匹配設(shè)計(jì)夾具,高低溫穩(wěn)定性好、精度高;

溫介電頻譜測(cè)試功能；變溫阻抗測(cè)試功能；掃頻測(cè)試功能；

軟件：采用C#語(yǔ)言編寫，可視化程度高，自動(dòng)測(cè)試，同時(shí)顯示四通道的測(cè)試數(shù)據(jù)，并圖形化。

1、 專用高頻測(cè)試線纜，更適合高頻測(cè)量：測(cè)試引線使用4端子對(duì)配置以擴(kuò)展測(cè)量端口，附帶BNC陽(yáng)頭連接板，用于連接高溫爐的測(cè)試夾具，同時(shí)測(cè)試線采用高頻測(cè)試專用測(cè)試線，設(shè)計(jì)兩層屏蔽。更適合高頻介電參數(shù)測(cè)量。

2、 可以實(shí)現(xiàn)多種材料不同功能的測(cè)試，高溫介電，電阻測(cè)試等

探測(cè)采用高精度鉑金電極，抗干擾的能力強(qiáng)，測(cè)量精度高

高溫爐加熱均勻，可實(shí)現(xiàn)多種氣氛環(huán)境下的測(cè)試

介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量，得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線，多種物理參數(shù)可實(shí)時(shí)測(cè)試

專用的分析和測(cè)試軟件，可以自行定義，保存數(shù)據(jù)

主要技術(shù)參數(shù)：

1、溫度范圍： -190℃-1000℃

2、測(cè)溫精度： 0.1℃

3．升溫速度： 1—20℃/min

4、控溫模式： 程序控制，提供常溫、變溫、恒溫、升溫、降溫等多種組合方式

5、通訊接口： RS-485

8、電極材質(zhì)： 鉑銥合金

9、上電極： 直徑1.6mm球頭電極，引線帶同軸屏蔽層

10、下電極：直徑26.8mm平面電極，引線帶同軸屏蔽層

11、保護(hù)電極：  帶保護(hù)電極，消除寄生電容、邊界電容對(duì)測(cè)試的影響

12、電極干擾屏蔽:電極引線帶同軸屏蔽，樣品平臺(tái)帶屏蔽罩

13、夾具升降控制： 帶程序和手動(dòng)控制，可更換夾具的電動(dòng)升降裝置

14、熱電偶 ：熱電偶探頭與樣品平臺(tái)為同一熱沉，測(cè)控溫度與樣品溫度保持一致

15、無(wú)電極樣品尺寸：直徑小于40mm，厚度小于8mm

16、帶電極樣品尺寸： 直徑小于26mm，厚度小于8mm

17、軟件功能：自動(dòng)分析數(shù)據(jù)，可以分類保存，樣品和測(cè)量方案結(jié)合在一起，生成系統(tǒng)所需的實(shí)驗(yàn)方案，輸出TXT、XLS、BMP等格式文件

18、測(cè)量方案：    提供靈活、豐富的測(cè)試設(shè)置功能，包括頻率譜、阻抗譜、介電譜及其組合

19、標(biāo)準(zhǔn)極化樣品：8片（10mm*1.5mm）

20、配套設(shè)備裝置：能夠配合ZJ-3和ZJ-6壓電測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量

21、配套設(shè)備裝置：可以配置10MM，20MM，30MM，40MM壓片夾具

23、測(cè)試頻率：20HZ-10MHZ

24、測(cè)試電平:100mV—2V

25、分辨率：1MHZ

26、輸出阻抗:  100Ω

27、測(cè)試參數(shù)：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc

28、基本準(zhǔn)確度: 0.05%

29、顯示:液晶顯示

30、參數(shù)測(cè)量：多功能圖形和參數(shù)測(cè)量

31、接口方式: RS232C或HANDLER

測(cè)試儀器：

高溫介電測(cè)試系統(tǒng)可適配Agilent E4990A/E4294A/E4980A、Wayne Kerr 6500P/B、

Tonghui TH2838/TH2839/TH2826/TH2828/TH2829/TH2827等系列LCR表或阻抗分析儀，其他品牌型號(hào)也可定制開(kāi)發(fā)

Agilent E4990A

· 五種頻率選擇；20 Hz 至 10/20/30/50/120 MHz，可升級(jí)

· ±0.08%（典型值 ±0.045%）基本阻抗測(cè)量精度

· 25Ω m 至 40 MΩ 寬阻抗測(cè)量范圍（10% 測(cè)量精度范圍）

· 測(cè)量參數(shù)：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、復(fù)合 Z、復(fù)合 Y、VAC、Iac、VDC、Idc

· 內(nèi)置直流偏置范圍：0 V 至 ±40 V、0 A 至 ±100 mA

· 10.4 英寸彩色 LCD 觸摸屏上的 4 通道和 4 跡線

· 數(shù)據(jù)分析功能：等效電路分析、極限線測(cè)試

Agilent E4294A

覆蓋了很寬的測(cè)試頻率范圍(40hz至110mhz)，具有±0.08%的基本阻抗精度。其優(yōu)異的高q值/低d值精度使其能分析低損耗元件。其寬信號(hào)電平范圍可用于在實(shí)際工作條件下評(píng)估器件。測(cè)試信號(hào)電平范圍為5mv至1vrms或200ua至20marms，直流偏置范圍為0v至±40v或0ma至±100ma。校準(zhǔn)和誤差補(bǔ)償功能避免了進(jìn)行夾具內(nèi)器件測(cè)量時(shí)的測(cè)量誤差。agilent 4294a是適用于電子元件設(shè)計(jì)、論證、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測(cè)試的強(qiáng)大工具。電路設(shè)計(jì)和開(kāi)發(fā)工程師也能從它提供的性能和功能中受益。

Agilent E4980A

基本精度為0.1%

測(cè)試頻率為100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz
量程為20mV～1Vrms,以5mVrms分檔
具有測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能
高速測(cè)量:25ms
高速接觸檢查
大的電容測(cè)試量程
變壓器參數(shù)測(cè)量(供選用)

Wayne Kerr 6500P/B

簡(jiǎn)易的TFT觸屏操作，10分鐘內(nèi)輕易上手

　　電介質(zhì)、壓電片及石英晶體測(cè)試解決方案

30 ms超高速測(cè)試速度

　　等效Rdc 可高度精準(zhǔn)四線式測(cè)試，量測(cè)到0.01mΩ

　　0.05%基本精確度

　　可內(nèi)建0-100mA +/- 40V，外加可至60A DC Bias

　　可將測(cè)試波形儲(chǔ)存成CSV格式，放大、縮小及MARKER功能

　　20Hz~120MHz，七種機(jī)型，可隨時(shí)升級(jí) ，最高升級(jí)到120MHz

　　直覺(jué)的用戶操作接口，USB、LAN、GPIB及HANDLER

　　可使用鼠標(biāo)及鍵盤操控，也可外接打印機(jī)及使用USB接口儲(chǔ)存數(shù)據(jù)

　　具等效電路仿真功能，內(nèi)建同頻率LCR Meter一臺(tái)

Tonghui TH29系列

測(cè)試頻率:20Hz-1MHz，分辨率:最高0.1nHz

基本精度:0.05%

測(cè)試速度:最快5.6ms/次

測(cè)試原理:自動(dòng)平衡電橋

高穩(wěn)定性和一致性:高達(dá)15個(gè)測(cè)試量程配置