目錄:北京中顯恒業儀器儀表有限公司>>澤攸科技電子顯微鏡>>TEM原位解決方案>> 原位STM-TEM光電一體測量系統
| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 綜合 |
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產品描述
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體樣品桿，是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量，并可在電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。
透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統是在標配的STM-TEM樣品桿上集成光學模塊，從而實現在透射電鏡中進行原位光電測量或者光譜學表征研究。
透射電鏡指標：
△ 兼容電鏡型號及極靴；
△ 可選雙傾版本，雙傾電學測量樣品桿Y軸傾角±25°（同時受限于極靴間距）；
△ 保證透射電鏡原有分辨率。
電學測量指標：
△ 包含一個電流電壓測試單元；
△ 電流測量范圍：１ nA-30 mA，9個量程；
△ 電流分辨率：優于100 fA；
△ 電壓輸出范圍：普通模式±10 V，高壓模式±150 V；
△ 自動電流-電壓（I-V）測量、電流-時間（I-t）測量，自動保存。
掃描探針操縱指標：
△ 粗調范圍：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；
△ 細調范圍：XY方向18 um，Z方向1.5 um；
△ 細調分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。
光纖指標：
△ 光纖外徑250 um，保證電鏡系統真空指標；
△ 可選光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡；
△ 可選SMA接頭、FC接頭。
△ 采用雙向光纖，可應用于CL光譜、光電探測及電致發光光譜等研究；
△ 光電一體化解決方案，具有高拓展性；
△ 高穩定性，保證電鏡原有分辨率；
△ 超低維護成本：設備配套的針尖制備系統可低成本制備針尖耗材。"爪-球“微動結構已實現模塊化量產，維護成本低；
△ 龐大的用戶群：在國內擁有近200個高質量原位用戶，出口到歐美澳等地。每年，用戶會產出大量高質量研究成果。定期組織各類用戶交流活動，搭建學術平臺供用戶交流；
△ 成熟的技術支持網絡：在安徽、北京、東莞和上海擁有分公司，其他各地擁有若干技術支持網點，24小時提供技術支持
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