目錄:北京中顯恒業儀器儀表有限公司>>澤攸科技電子顯微鏡>>TEM原位解決方案>> 原位解決方案-光電性質測試系統
產品描述
PicoFemto透射電鏡原位光電性質樣品桿(非定量力+電+光+三維操縱)在標配TEM-STM樣品桿內集成光纖單元,配合外接光譜儀或激光器實現光電測量或者CL測量。
△ 光纖外徑250um,保證電鏡系統真空指標;
△ 可選光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡;
△ 可選SMA接頭、FC接頭。
△ 集成光學模塊,可應用于CL光譜、光電探測及電致發光光譜等研究;
△ 光電一體化解決方案,具有高拓展性;
△ 高穩定性,保證電鏡原有分辨率;
△ 超長的壽命:
△ 超低維護成本:設備配套的針尖制備系統可低成本制備針尖耗材。"爪-球“微動結構已實現模塊化量產,維護成本低;
△ 龐大的用戶群:在國內擁有近200個高質量原位用戶,出口到歐美澳等地。每年,用戶會產出大量高質量研究成果。定期組織各類用戶交流活動,搭建學術平臺供用戶交流;
△ 成熟的技術支持網絡:在安徽、北京、東莞和上海擁有分公司,其他各地擁有若干技術支持網點,24小時提供技術支持