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這是一款可以被大多數客戶所接收的掃描開爾文探針系統，它是在ASKP基礎之上包括了彩色相機/TFT顯示器、2毫米和50微米探針、外部數字示波鏡等配置，其規格如下：

□    2毫米，50微米探針；

□    功函數分辨率 1-3 meV(2毫米針尖)，5-10 meV(50微米針尖)；

□    針尖到樣品表面高度可以達到400納米以內；

□    表面勢和樣品形貌3維地圖；

□    探針掃描或樣品掃描選配；

□    彩色相機、調焦鏡頭、TFT顯示器和專業的光學固定裝置；

□    參考樣品(帶相應的掃描開爾文探針系統的形貌)；

□    備用的針尖放大器；

□    24個月超長質保期；

 

□    *臺商用的*意義上的開爾文探針系統；

□    zui高分辨率的功函數和表面勢，的穩定性和數據重現性；

□    非零技術(Off-null,ON) ——ON信號探測系統在高信號水平下工作，與基于零信號原理(null-based,LIA)的系統相比，不會收到噪聲的影響擁有高靈敏度；

□    高度調節技術 ——我們的儀器在測量和掃描時可以控制針尖的高度。因為功函數受　　　　　　　　　　　　　　　樣品形貌的影響，針尖與樣品表面距離的調節意味著數據的高重現性且不會漂移；

□    該領域內，擁有的信噪比；

□    快速響應時間 ——測量速度在0.1-10秒間，遠快于其他公司產品；

□    功能強的驅動器 ——選用Voice-coil(VC)驅動器，與通常的壓電驅動器相比，VC驅動器頻率要穩定得多、控制的針尖振幅大得多、支持平行多探針操作、支持不同直徑探針操作；

□    所有開爾文探針參數的全數字控制；

ON	非零探測  Off Null detection
HR	高度調節模式  Height Regulation mode
SM	實際開爾文探針信號監控  Monitoring of the actual Kelvin probe signal
UC	用戶通道，同時測量外部參數  User Channels, simultaneous measurement of external parameters
DC	電流探測系統去除漂移效應  Current Detection system rejects stray capacity effects
PP	平行板震動模式  Ideal, Parallel Plate Oscillation Mode
SA	信號平均  Signal Averaging (often termed Box-Car Detection)
WA	功函數平均  Work Function Averaging, Difference and Absolute reporting
DC	所有探針及探測參數的數字控制  Digital Control of all Probe and Detection Parameters
QT	針尖快速改變  Quick-change Tip, variable spatial resolution
DE	數據輸出  Data Export to Excel, Origin, or 3rd party software
OC	輸出通道  Output Channel: TTL switching of external circuit
FC	法拉第籠(電磁干擾防護罩)  Faraday Cage (EMI Shield)
RS	金-鋁參考樣品  Gold-Aluminium Reference Sample
額外選配項
SPV	表面光伏電壓軟硬件包  Surface Photovoltage Software and Hardware Package
RH	相對濕度腔  Relative Humidity Chamber
AC	控制氣體進口的環境單元  Ambient Cell for controlled Gas Inlet
EDS	外部數據示波鏡  External Digital Oscilloscope
OPT	彩色相機  Color Camera, TFT Screen and Optical Mounts
ST	針尖置換  Replacement Tips
GCT	鍍金的針尖替換  Gold Coated Replacement Tips
XYZ	25.4毫米手動3維控制臺  3-axis 25.4 mm Manual Stage

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