KP Technology掃描開爾文探針-材料表征 參考價(jià):面議
KP Technology掃描開爾文探針-材料表征非破壞性振動(dòng)電容裝置,用于測試導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體材料表面的表面電勢(shì),表面功函。由材料表面頂部的1-3層原子...英國KP開爾文探針掃描-半導(dǎo)體表征 參考價(jià):面議
英國KP開爾文探針掃描-半導(dǎo)體表征英國KP開爾文探針掃描是一種非接觸無損震蕩電容裝置,用于測量導(dǎo)體材料的功函數(shù)(Work Function)或半導(dǎo)體、絕緣表面的...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)