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目錄:孚光精儀(中國)有限公司>>表面微納測量>>橢偏儀>> FPANG-DUV-VIS-NIR深紫外-可見-近紅外多波段橢偏儀

深紫外-可見-近紅外多波段橢偏儀
  • 深紫外-可見-近紅外多波段橢偏儀
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 品牌 其他品牌
  • 型號 FPANG-DUV-VIS-NIR
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 所在地 上海市
屬性

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更新時間:2024-08-29 15:20:32瀏覽次數(shù):204評價

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產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,能源,電子,電氣,綜合
深紫外-可見-近紅外多波段橢偏儀是覆蓋190nm-1700nm光譜范圍的DUV-VIS-NIR光譜橢偏儀,非常適合超薄薄膜厚度測量,納米薄膜膜厚測量應(yīng)用。

深紫外-可見-近紅外多波段橢偏儀是覆蓋190nm-1700nm光譜范圍的DUV-VIS-NIR光譜橢偏儀,非常適合超薄薄膜厚度測量,納米薄膜膜厚測量應(yīng)用。
DUV深紫外橢偏儀特別適合測量超薄薄膜,如納米厚度薄膜,典型例子是硅晶片上的自然氧化物薄膜,其薄膜厚度通常僅為約1nm-2nm。
DUV深紫外橢偏儀還很適合測量許多材料的帶隙。
可見近紅外范圍VIS-NIR橢偏儀用于測量相對較厚的薄膜,也適合測量薄膜的光學常數(shù)。
深紫外-可見-近紅外多波段橢偏儀產(chǎn)品特色
使用基于Windows的軟件易于操作
**的光學設(shè)計,實現(xiàn)***佳系統(tǒng)性能
用于寬帶應(yīng)用的高功率DUV-VIS-NIR光源
基于陣列的探測器系統(tǒng),確保快速測量
用戶可以定義任意數(shù)量的圖層
可用于實時或在線厚度、折射率監(jiān)測
系統(tǒng)配有全面的光學常數(shù)數(shù)據(jù)庫和庫
**的TFProbe 3.3.X軟件允許用戶對每張膠片使用NK表、色散或有效介質(zhì)近似(EMA)。
三種不同的用戶級別控制:工程師模式、系統(tǒng)服務(wù)模式和易用用戶模式
靈活的工程師模式,用于各種配方設(shè)置和光學模型測試
強大的一鍵式(交鑰匙)解決方案,用于快速和常規(guī)測量
可配置的測量參數(shù)、用戶偏*和易于操作
系統(tǒng)的全自動校準和初始化
直接從樣品信號獲得精確的樣品對準接口,無需外部光學元件
精確的高度和傾斜調(diào)節(jié)
適用于多種不同厚度的基材
各種選項,可用于特殊配置的配件,如標測臺、波長擴展、焦點等。
2D和3D輸出圖形和用戶友*的數(shù)據(jù)管理界面
深紫外-可見-近紅外多波段橢偏儀規(guī)格參數(shù)

型號和波段

SE200

(DUV-Vis)

SE300

(Vis)

SE450

(Vis-Nir)

SE500

(DUV-Vis-Nir)

探測器類型

CCD或CMOS陣列

CCD或CMOS陣列

CCD或CMOS和InGaAs陣列

CCD或CMOS和InGaAs陣列

波長范圍

190-1100nm

370-1100nm

370-1700nm

190-1700nm

波長數(shù)據(jù)點

測量波長范圍和波長數(shù)據(jù)點均可訂購時選配(數(shù)據(jù)點僅受分辨率限制)

波長分辨率

0.01-3nm

0.01-3nm

0.01-3nm

0.01-3nm

光學選配根據(jù)應(yīng)用或客戶偏*進行步進掃描或旋轉(zhuǎn)偏振器/分析儀/減速器;使用PCSA或PSCA配置,可以測量完整的360度模型;還提供PCSCA雙減速器配置,用于16個全元件(4x4)Mueller Matrix測量

數(shù)據(jù)采集時間

100ms-10s,用戶可定義

入射角范圍

20-90度

入射角分辨率

5度-手動型調(diào)整配置
0.001度-自動型橢偏儀配置(用訂購可選)

偏光器件

起偏器,檢偏器等

光斑尺寸

1-5mm孔徑可調(diào)

光源

(D2+TH)/Xe

TH

TH

(D2+TH)/Xe

燈泡壽命

4000 hrs.

10000 hrs.

10000 hrs.

4000 hrs.

可測薄膜厚度

***高30 µm

20nm-50 µm

20nm-50 µm

***高50 µm

測厚分辨率

< 1? or 0.1% (with 200 ? thick SiO2onSi Standard, precision better than 0.2 ?)

折射率精度

0.0001

測厚精度

0.25%

系統(tǒng)角度精度

UV-Vis Range: Psi 45° ± 0.05°, Delta 0° ± 0.1° ; NIR Range: Psi 45° ± 0.1°, Delta 0° ± 0.2° 

樣品臺

黑色陽極氧化鋁合金真空吸盤,通常直徑為150x150mm或200mm;其他尺寸(如450mm)可根據(jù)要求或基于自動映射行程范圍進行配置

Z-位移臺

精密Z臺,典型行程范圍為12mm,用于樣品高度調(diào)節(jié),電動Z臺是可選的,行程范圍可定制高達50mm(~2英寸)

Tilting傾斜校準

三點傾斜手動對準機構(gòu)通常配備非標測工具,電動自動傾斜可作為選項;對于自動測繪工具,提供無需進一步傾斜調(diào)整的預(yù)調(diào)平平臺。

軟件

標配

接口

USB

操作系統(tǒng)

Both 32bit and 64 Bit, Win XP, 7, 8, 10,11

計算機配置建議

Intel i5, 500 GB space, 8GB RAM; 24" LCD Monitor or equivalent Laptop

供電要求

110– 240 VAC /50-60Hz, 3A

平臺

桌面式或原位配置

重量/尺寸

~ 75kg / 38(L)x22(D)x34(H)"


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