晶錠方阻電阻率測試儀
- 公司名稱 九域半導(dǎo)體科技(蘇州)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/11/18 15:38:43
- 訪問次數(shù) 279
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專注于非接觸式半導(dǎo)體計(jì)量分析技術(shù)的開發(fā)和生產(chǎn) ,攻克被國外卡脖子技術(shù)。
產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光伏、科研以及平板材料測試領(lǐng)域。借助公司*計(jì)量分析測試技術(shù),為晶圓、碳化硅、硅片、封裝測試等生產(chǎn)和品質(zhì)監(jiān)控,提供一整套完整測試和解決方案。
晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率(霍爾)測試儀,少子壽命測試儀,
一、
晶圓電阻率測試儀
硅片方阻測試儀
渦流法低電阻率分析儀
晶錠電阻率分析儀
樣品尺寸:2"-8"或者16mm×16mm的方形樣品;
遷移率測量范圍:100-20000(cm2/v.sec);
方塊電阻測量范圍:100-3000(ohm/sq);
載流子面密度測量范圍:1E11-1E14(cm-2);
電磁鐵磁場強(qiáng)度:1.0T
探頭線圈直徑:15mm