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DUALSCOPE? MP0 中文操作手冊(cè)
1 開(kāi) / 關(guān)儀器
說(shuō)明：儀器沒(méi)有專(zhuān)門(mén)的開(kāi)關(guān)。
打開(kāi)儀器
- 當(dāng)儀器放在工件上時(shí)自動(dòng)開(kāi)啟。如果儀器放在非鐵磁性或不導(dǎo)電材料上，顯示屏?xí)@示“Er6”，然后顯示四個(gè)水平短線而不顯示任何讀數(shù)。
- 另一種開(kāi)機(jī)方法是按 [OK]鍵。
請(qǐng)注意!
不要通過(guò)手指壓迫傳感器來(lái)開(kāi)啟儀器！這樣可能會(huì)導(dǎo)致錯(cuò)誤的測(cè)量結(jié)果。
關(guān)閉儀器 / 自動(dòng)關(guān)閉
一分鐘不使用，儀器會(huì)自動(dòng)關(guān)閉。 （關(guān)閉 = 儀器沒(méi)有任何顯示）。
2 測(cè)量涂鍍層厚度
- 儀器開(kāi)啟后，把儀器放在要測(cè)量工件上，等待儀器發(fā)出測(cè)量聲響。這種方式可以自動(dòng)開(kāi)啟儀器。
- 把儀器提離工件。
測(cè)量聲響后顯示讀數(shù)。說(shuō)明：若太早提起儀器(未有聲響前)，錯(cuò)誤信息 “Er6”會(huì)出現(xiàn)。重復(fù)步驟1。
3. 當(dāng)儀器已在開(kāi)啟狀態(tài)時(shí)， 讀數(shù)會(huì)馬上顯示。儀器放在測(cè)量工件上及提起后均有顯示。
用 MP0 測(cè)量
3 顯示儀器內(nèi)儲(chǔ)存的測(cè)量數(shù)據(jù)
儀器zui多可以儲(chǔ)存999個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)。
- 用 [5]鍵或 [6]鍵可翻看測(cè)量數(shù)據(jù)。
- 翻過(guò)*個(gè)或者zui后一個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)后，屏幕將顯示 “- - - - “并維持1秒鐘左右。
任何時(shí)候您都可以繼續(xù)測(cè)量。
4 刪除所有測(cè)量數(shù)據(jù)
- 按 [5] 或 [6]鍵。
- 按 [CAL]鍵。
“del” 即刪除將顯示 2 秒鐘。 - 在“del”顯示的時(shí)候按[OK]鍵。
儀器內(nèi)所有測(cè)量數(shù)據(jù)將被刪除。
當(dāng) “del”不顯示的時(shí)候按 [OK]鍵將無(wú)任何反應(yīng)。
5 歸一化
歸一化用來(lái)對(duì)測(cè)量?jī)x器進(jìn)行調(diào)整。歸一化需要未鍍過(guò)的底材，而且底材的形狀和物料必須和被測(cè)量的工件一致。
說(shuō)明：歸一化會(huì)刪除所有的內(nèi)存數(shù)據(jù)。
歸一化儀器 (前提: 儀器處于開(kāi)啟狀態(tài))
- 按 [CAL]鍵. 顯示 "Base" (即 “未鍍過(guò)的底材”).
- 在底材上測(cè)量五次左右
每次測(cè)量后，會(huì)顯示當(dāng)前的讀數(shù)。 - 按兩次[OK] 鍵.
屏幕顯示 “Er17”，忽略它。
完成歸一化程序。
6 校準(zhǔn)
校準(zhǔn)需要有下面幾項(xiàng)東西：底材（形狀和底材物料要與待測(cè)部件一致）和一片標(biāo)準(zhǔn)片(儀器隨機(jī)的75 μm左右標(biāo)準(zhǔn)片)。 說(shuō)明：校準(zhǔn)將刪除內(nèi)存中的所有讀數(shù)。
校準(zhǔn)儀器（前提：儀器必須打開(kāi)）
- 按 [CAL]鍵。
顯示 "Base" (即 “未鍍過(guò)的底材”) - 在底材上測(cè)量五次左右.
每次測(cè)量后，會(huì)顯示當(dāng)前的讀數(shù)。 - 按 [OK]鍵.
顯示 0.00 和 STD1 (即校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片 # 1). - 把校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片放在底材上，并測(cè)量5次左右。
每次測(cè)量后，屏幕上會(huì)顯示當(dāng)前讀數(shù)。 - 用 [5] 或 [6]鍵調(diào)整第4步的zui后一個(gè)數(shù)值至標(biāo)準(zhǔn)片的標(biāo)稱值， 如“75 μm”。 標(biāo)準(zhǔn)片的標(biāo)稱值注明在標(biāo)準(zhǔn)片上。
- 按 [OK]鍵。
完成校準(zhǔn)程序. 儀器返回測(cè)量狀態(tài).
7 刪除校準(zhǔn)資料 / 恢復(fù)初始曲線
有時(shí)，如果經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)后，儀器測(cè)量仍然不準(zhǔn)確，則可以刪除校準(zhǔn)參數(shù)。如果先前的校準(zhǔn)程序沒(méi)有正確進(jìn)行的話，就可能會(huì)發(fā)生這種情況。
在這種情況下，可以把特征曲線恢復(fù)到原始的出廠設(shè)定。
刪除儀器的校準(zhǔn)參數(shù) （前提：儀器必須打開(kāi)）
- 按[CAL]鍵. 屏幕上顯示"Base" (即 “底材”) .
- 在底材上測(cè)量5次左右.
- 按[OK]鍵. 顯示 “STD1" (即校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片 # 1) .
- 在底材上測(cè)量1次.
屏幕將顯示0左右的讀數(shù). - 用[5] 或 [6] 鍵將 STD1調(diào)整到 0.00 .
屏幕將顯示 “0.00 STD1” . - 按 [OK] 鍵。恢復(fù)到初始的特征曲線。
恢復(fù)完成。 儀器現(xiàn)在可以測(cè)量了。
8 服務(wù)菜單
進(jìn)入服務(wù)菜單及設(shè)定方法：
- 按[OK]鍵10次。屏幕上顯示“157”。
- 用[5]鍵設(shè)定到“159”。
- 按[OK]。屏幕顯示 FREE。
- 用[5] [6]鍵選擇服務(wù)菜單編號(hào) (只可選 # 5 到 #10)
- 重復(fù)按[OK]選擇菜單內(nèi)容， 利用 [5]或 [6] 進(jìn)行設(shè)定。
- zui后按[OK]離開(kāi)服務(wù)程序。
服務(wù)菜單# 5
內(nèi)容 | 解釋 |
連續(xù)測(cè)量模式 | 連續(xù)測(cè)量模式下： 注意： 測(cè)量結(jié)束后，請(qǐng)務(wù)必關(guān)閉連續(xù)測(cè)量模式！否則電池將耗盡 (連續(xù)測(cè)量模式下自動(dòng)關(guān)機(jī)功能失效！) |
(服務(wù)菜單# 1 到 4 這款型號(hào)沒(méi)有)
服務(wù)菜單# 6
內(nèi)容 | 解釋 |
顯示符號(hào) | 按兩次 [OK]鍵將顯示全部符號(hào)。注：但不是所有符號(hào)MP0這款儀器都用到。 |
服務(wù)菜單# 7
內(nèi)容 | 解釋 |
軟件版本 | 顯示儀器軟件版本 |
服務(wù)菜單# 8
內(nèi)容 | 解釋 |
測(cè)試菜單 | 僅供維修使用! |
服務(wù)菜單# 9
內(nèi)容 | 解釋 |
恢復(fù)到出廠設(shè)置 | 所有服務(wù)菜單的設(shè)置都將恢復(fù)到出廠設(shè)置。 |
服務(wù)菜單# 10
內(nèi)容 | 解釋 |
主校準(zhǔn) | UCAL (僅供維修使用!) |
9 故障查找
信息 | 解釋 / 可能原因 | 解決方法 |
Er1 | 內(nèi)部錯(cuò)誤。 | 進(jìn)行歸零步驟。 如錯(cuò)誤重復(fù)出現(xiàn)，聯(lián)絡(luò)Fischer維修部。 |
Er4 | 內(nèi)存測(cè)量數(shù)據(jù)儲(chǔ)存滿。 | 刪除內(nèi)存測(cè)量數(shù)據(jù)。 |
Er5 | 無(wú)法確定底材值。 | 用合適的標(biāo)準(zhǔn)片校正。 校正標(biāo)準(zhǔn)片至少要有實(shí)際工件涂鍍層的1/2厚(在涂層上校正時(shí))。 |
信息 | 解釋 / 可能原因 | 解決方法 |
Er6 | 超出測(cè)量范圍，不能顯示讀數(shù)。 原因: 涂鍍層太厚。 原因: 不正確測(cè)量。 原因: 歸零或校正方法有誤。 | 涂鍍層厚度在儀器測(cè)量范圍內(nèi)。 正確測(cè)量 (例如: 在測(cè)量前或后，不要把儀器放在工件上徘徊；在測(cè)量后不要太快提起儀器)。 |
Er7 | 歸零或校正時(shí)，非正常值被認(rèn)可了。 - 不正確測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)片。 - 要求測(cè)量底材時(shí)卻測(cè)量了標(biāo)準(zhǔn)片。 - 測(cè)量有折痕的標(biāo)準(zhǔn)片。 - 測(cè)量時(shí)，儀器沒(méi)有平放在工件或標(biāo)準(zhǔn)片上。 | 刪除內(nèi)存數(shù)據(jù)，重新測(cè)量。 重新正確歸零或校正 (例如:在測(cè)量前或后，不要把儀器放在工件上徘徊；在測(cè)量后不要太快提起儀器)。 在同一工件上測(cè)量多次取其平均值歸零。 更換標(biāo)準(zhǔn)片。 正確測(cè)量，將儀器平放在工件或標(biāo)準(zhǔn)片上。 |
Er12 | 校正時(shí)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)片順序錯(cuò)誤。 | 按正確的順序重新校正。 |
Er13 | 主校準(zhǔn)時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)片的間隔不在允許范圍內(nèi)。 使用了錯(cuò)誤的標(biāo)準(zhǔn)片。 誤操作，在標(biāo)準(zhǔn)片上而不是在底材上歸零。 | 通知客戶服務(wù)部門(mén)。 使用正確的標(biāo)準(zhǔn)片。 在底材上歸零。 |
Er14 | 儀器內(nèi)部錯(cuò)誤: 無(wú)法計(jì)算主校準(zhǔn)參數(shù)。原始主校準(zhǔn)參數(shù)被保留。 | 重做主校正。 |
Er15 | 無(wú)法儲(chǔ)存主校準(zhǔn)參數(shù)。 | 客戶服務(wù)部門(mén)。 |
Er17 | 讀數(shù)不夠， 因此無(wú)法結(jié)束一個(gè)組 。 | 再測(cè)幾個(gè)數(shù)據(jù)，直到*組可以結(jié)束，然后產(chǎn)生一個(gè)新的統(tǒng)計(jì)值。 |
Er22 | 儀器內(nèi)部錯(cuò)誤: 錯(cuò)誤訪問(wèn)內(nèi)存或EEPROM。 | 客戶服務(wù)部門(mén)。 |
Er28 | 儀器內(nèi)部錯(cuò)誤: 無(wú)法計(jì)算測(cè)量數(shù)據(jù)。 | 客戶服務(wù)部門(mén)。 |
10 技術(shù)資料
儀器型號(hào) | DUALSCOPE? MP0 |
訂貨號(hào) | 604-162 |
可測(cè)量的涂鍍層系統(tǒng) | NF, Iso/Fe 磁性鋼鐵基材上非磁性鍍層和非導(dǎo)電涂層的厚度(磁感應(yīng)方法) 和 Iso/NF 非磁性金屬 基材上非導(dǎo)電涂層的厚度 |
測(cè)量范圍 | NF,Iso/Fe 0 - 2000 μm (0 - 78 mils) Iso/NF 0 - 2000 μm (0 - 78 mils) |
測(cè)量誤差 | For applications NF, Iso/Fe 0 ... 75 μm (0 - 3 mils) ± 1.5 μm 75 ... 1000 μm (3 - 39 mils) ± 2 % 1000 ... 2000 μm (39 - 78 mils) ￡ 3 % For applications Iso/NF 0 ... 50 μm (0 - 2 mils) ± 1 μm 50 ... 1000 μm (2 - 39 mils) ± 2 % 1000 ... 2000 μm (39 - 78 mils) ￡ 3 % |
重復(fù)精度 | For applications NF, Iso/Fe 0 ... 50 μm (0 - 2 mils) ￡ 0.25 μm 50 … 2000 μm (2 - 78 mils) ￡ 0.5 % For applications Iso/NF 0 ... 100 μm (0 - 4 mils) ￡ 0.5 μm 100 … 2000 μm (4 - 78 mils) ￡ 0.5 % |
重量 | 85 g (2.73 oz) (不含電池); 135 g (4.34 oz) (含電池) |
尺寸 | W x D x H: 64 mm x 30 mm x 85 mm (2.5” x 1.2” x 3.4”) |
電源 | 2 x battery LR6.AA 1.5 V |
功耗 | Max. 0.2 Watt |
環(huán)境溫度 | 操作溫度5° ... 40°C (41° – 104°F) ; 儲(chǔ)存溫度: 5°... 60°C (41° – 140°F) |
相對(duì)濕度 | 30 ... 90 % (無(wú)凝水) |
測(cè)量數(shù)據(jù)內(nèi)存 | zui多999個(gè)測(cè)量讀數(shù) |
zui小測(cè)量間隔 | 2 秒 |
11 儀器及附件的訂貨資料
項(xiàng)目 訂貨號(hào) DUALSCOPEò MP0 604-162 電池 MP0R 2x LR6.AA 1.5 V 603-534 掛帶 MP0R 603-481 探頭保護(hù)罩MP0R 603-582 塑料校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片 75 μm MP0R 603-479 Al-基材 MP0R 603-478 Fe-基材 MP0R 603-477 |
相關(guān)產(chǎn)品
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