電子負(fù)載應(yīng)用原理

電子負(fù)載電路原理圖
   原理圖如圖2所示，基本電路為除虛線框⑤和兩個(gè)萬(wàn)用表以外的部分，由恒壓電路、恒流電路、過(guò)流保護(hù)電路、驅(qū)動(dòng)電路組成。V=12V輸入電壓，經(jīng)過(guò)限流電阻R1到三端可調(diào)分流基準(zhǔn)源U1(TL431)的陰極K后，由參考端R得到輸出基準(zhǔn)電壓VR為2.5V，經(jīng)電阻R1到調(diào)整滑動(dòng)變阻器R6，一路經(jīng)電阻R2為U3A提供電壓，另一路經(jīng)電阻R7為U3C提供電壓。

1.恒壓電路
   如圖2虛線框①所示。當(dāng)負(fù)載端輸入電壓增大時(shí)，U3A同相輸入端電壓增大。當(dāng)同相輸人端電壓大于反相輸入端電壓(基準(zhǔn)電壓)時(shí)，U3A輸出高電平，在場(chǎng)效應(yīng)管Q1、Q2、Q3、Q4的柵極G電壓VG上產(chǎn)生壓降，使得漏極D和源極S之間的電壓VDS減小，從而達(dá)到恒壓的目的。

2.恒流電路
   如圖2虛線框②所示。當(dāng)負(fù)載電流增大時(shí)，R19、R22、R25、R28上的電壓增大。即R18、R21、R24、R27上的取樣電壓增大，也即是U3C反相輸入端電壓增大，當(dāng)U3C反相輸入端電壓大于同相輸入端電壓時(shí)，U3C輸出低電平，場(chǎng)效應(yīng)管Q1、Q2、Q3、Q4的柵極G電壓VG減小，Q1、Q2、Q3、Q4的內(nèi)阻RDS增大，負(fù)載電流減小，從而達(dá)到恒流的目的。

3.過(guò)流保護(hù)電路
   如圖2虛線框③所示。當(dāng)負(fù)載電流增大時(shí)，R19、R22、R25、R28上的電壓增大，即R18、R21、R24、R27上的取樣電壓增大，U3B反相輸入端電壓增大，但電流繼續(xù)增大。當(dāng)反相端電壓大于所設(shè)定過(guò)流保護(hù)電流的基準(zhǔn)電壓(同相端輸入電壓)時(shí)，U3B輸出低電平，場(chǎng)效應(yīng)管Q1、Q2、Q3、Q4的柵極G電壓VG減小，Q1、Q2、Q3、Q4的內(nèi)阻RDS增大，負(fù)載電流減小，從而起到過(guò)流保護(hù)作用。

4.驅(qū)動(dòng)電路
  如圖2虛線框④所示。Q1、Q2、Q3、Q4選用大功率場(chǎng)效應(yīng)管IRF540作為功率器，但是多管并聯(lián)后，由于極間電容和分布電容相應(yīng)增加，使放大器的高頻特性變壞，通過(guò)反饋容易引起放大器的高頻寄生振蕩。為此，并聯(lián)復(fù)合管一般不超過(guò)4個(gè)，而且在每管基極或柵極上串接防寄生振蕩電阻。R17、R20、R23、R26為驅(qū)動(dòng)電阻，R18、R21、R24、R27為取樣電壓電阻，R19、R22、R25、R28為限流電阻。C9一端接場(chǎng)效應(yīng)管IRF540漏極，另一端接地，用于防震蕩。

1.電子負(fù)載的工作原理：

電子負(fù)載，顧名思義，是用電子器件實(shí)現(xiàn)的“負(fù)載”功能，其輸出端口符合歐姆定律。具體地說(shuō)，電子負(fù)載是通過(guò)控制內(nèi)部功率器件MOSFET或晶體管的導(dǎo)通量，使功率管耗散功率，消耗電能的設(shè)備。

  電子負(fù)載一般具有定電流、定電壓、定電阻、定功率、短路及動(dòng)態(tài)負(fù)載多種模式，可以模擬各種不同的負(fù)載狀況，

2.電子負(fù)載的應(yīng)用實(shí)例：

（1）液晶等電腦組件生產(chǎn)企業(yè)：可以使用電子負(fù)載實(shí)現(xiàn)其內(nèi)部供電模塊的測(cè)試以及老化

（2）開(kāi)關(guān)電源廠家：一般的，電子負(fù)載可實(shí)現(xiàn)直流電源供應(yīng)器的電源穩(wěn)定性、負(fù)載穩(wěn)定性、輸出電壓調(diào)整和瞬態(tài)特性等參數(shù)的測(cè)試。對(duì)于多路輸出的電源可以使用組合附在測(cè)試

（3）適配器/充電器廠家：

測(cè)試電池適配器輸出電壓和電流的調(diào)整能力是很重要的，它將保證正確地對(duì)設(shè)備供電和對(duì)設(shè)備電池充電。可以使用CC和CR工作模式進(jìn)行常規(guī)性能測(cè)試，可以使用OCP和SHORT等功能測(cè)試產(chǎn)品的保護(hù)動(dòng)作測(cè)試。充電器的調(diào)節(jié)時(shí)間、充電時(shí)間等均可由負(fù)載的拉載時(shí)間測(cè)試出。