二、紅外熱成像儀原理
系用紅外熱成像技術(shù),探測目標(biāo)物體的紅外輻 ) 可發(fā)現(xiàn)接頭松動或接觸不良、 不平衡負(fù)荷、 過
(1 電氣裝置: 射, 并通過光電轉(zhuǎn)換、 信號處理等手段, 將目標(biāo)物體的溫度分布圖 過熱等隱患, 這些隱患可能造成的潛在影響是產(chǎn)生電弧、 短路、 載、 像轉(zhuǎn)換成視頻圖像的設(shè)備。利用熱成像儀測定目標(biāo)本身和背景之 燒毀甚至起火。 間的紅外線差便可以得到不同的紅外圖像,熱紅外線形成的圖像
(2 變壓器: ) 可以發(fā)現(xiàn)的隱患有接頭松動、 套管過熱、 接觸不良 目標(biāo)的熱圖像和目標(biāo)的可見光圖像不同, 它不是人眼 稱為熱圖像。 ) 過載、 三相負(fù)載不平衡、 冷卻器管道堵塞不暢等, 其 所能看到的目標(biāo)可見光圖像, 而是目標(biāo)表面溫度分布圖像。 換一句 (抽頭變換器 、 短路、 燒毀甚至起火。 影響亦為產(chǎn)生電弧、
話說,紅外熱成像儀使人眼不能直接看到的目標(biāo)表面溫度分布變 成人眼可以看到的代表目標(biāo)表面溫度分布的熱圖像。我們可以通 3 紅外熱成像儀的使用技巧及注意事項(xiàng) 過熱圖像的溫度分布找出異常發(fā)熱點(diǎn), 起到預(yù)維護(hù)的作用。 紅外熱成像儀應(yīng)用于變電運(yùn)行的好處顯而易見,但由于其內(nèi) 1.2 功能特點(diǎn) 部結(jié)構(gòu)精密, 且采用的紅外線探測器非常靈敏, 故如使用不當(dāng), 可 紅外熱成像
儀具有穩(wěn)定、 可靠、 測溫迅速、 分辨率高、 直觀、 不 下面以 能會令檢測目標(biāo)溫度出現(xiàn)誤差, 嚴(yán)重時甚至?xí)p壞成像儀。 存儲、 處理和分析方便等優(yōu)點(diǎn)。由于具 受電磁干擾以及信息采集、 PH-FTi系列的 PH-FTi 32為例, 列舉使用紅外成像儀的技巧 有將物體發(fā)出的不可見紅外能量轉(zhuǎn)變?yōu)榭梢姷臒釄D像的特性, 通 和要注意的事項(xiàng)。 過調(diào)整紅外熱成像儀的各個參數(shù) (焦距、 溫標(biāo)值、 輻射率等) 可以 ,
3.1 外界環(huán)境影響 快速得出被測點(diǎn)的表面發(fā)熱溫度,據(jù)此可分析了解設(shè)備內(nèi)部熱損 由于絕大部分電氣設(shè)備位于室外,使用紅外熱成像儀的時候 紅外熱成像儀具有定 耗部位和性質(zhì), 從而判斷該設(shè)備的健康狀態(tài)。 要考慮塵土、 霧等阻擋儀器光學(xué)系統(tǒng)的情況, 煙、 同時風(fēng)、 雪天 雨、 性成像與定量測量的雙重功能,并有較高空間分辨率和溫度分辨 氣對電氣設(shè)備都有冷卻作用,所以應(yīng)盡量避免在以上環(huán)境進(jìn)行測 率, 能夠辨別很小的溫差。實(shí)時熱圖像能夠清晰顯示在屏幕上, 為 溫, 如必須進(jìn)行, 則要對成像儀進(jìn)行必要的保護(hù), 檢測結(jié)果也可根 建立熱圖像數(shù)據(jù)庫提供了條件, 實(shí)現(xiàn)了集圖像采集、 儲存、 分析于 據(jù)成像儀本身的設(shè)計(jì)進(jìn)行相應(yīng)的校正。 一體的功能。而且它能夠快速對大面積的設(shè)備進(jìn)行檢測, 準(zhǔn)確、 直 觀地發(fā)現(xiàn)與運(yùn)行電壓、 電流有關(guān)的設(shè)備缺陷, 還可對缺陷的性質(zhì)、
3.2 焦距與距離的影響 PH-FTi 32 熱成像儀配備一個可調(diào)節(jié)鏡頭, 根據(jù)被測設(shè)備的遠(yuǎn)近, 我們 位置、 程度作出定性、 定量的判斷, 這些都為運(yùn)行設(shè)備異常的跟蹤 要調(diào)節(jié)至相應(yīng)的焦距 (使圖像畫面清晰即可) 而作為檢測人員, 。 選 和后續(xù)處理提供了重要依據(jù)。 擇一個好的檢測點(diǎn)也很重要。 在保證檢測角度良好的情況下, 我們 2 紅外熱成像測溫技術(shù)的應(yīng)用 應(yīng)使成像儀與被測物體距離盡量地小,這有利于提高檢測數(shù)據(jù)的 變電站的設(shè)備巡視是運(yùn)行人員每天必須進(jìn)行的一項(xiàng)重要工 度。 作,其方法一般為通過目測、耳聽和鼻嗅等來了解設(shè)備的運(yùn)行情
3.3 輻射率的設(shè)定 況, 其中又以目測為主。然而目測設(shè)備有著很大的局限性, 一些有 在紅外熱成像儀使用過程中, 輻射率的設(shè)定很容易被忽略, 它 發(fā)展性的缺陷, 特別是設(shè)備內(nèi)部缺陷, 常常要等其發(fā)展到一定程度 是通過與相同溫度的黑體相比較來衡量物體輻射量的一個指 后才能被發(fā)現(xiàn), 這樣不但延誤了設(shè)備缺陷的及時發(fā)現(xiàn)和處理
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