XRD的基本原理:
X射線與物質作用時,就其能量轉換而言,一般分為三部分,其中一部分被散射,一部分被吸收,一部分通過物質繼續沿原來方向傳播。散射的X射線與入射X射線波長相同時對晶體將產生衍射現象,即晶面間距產生的光程差等于波長的整數倍時。將每種晶體物質的衍射花樣與標準衍射花樣對比,利用三強峰原則,即可鑒定出樣品中存在的物相。
X-射線的產生是由在X-射線管(真空度10-4Pa)中有30-60KV的加速電子流,沖擊金屬(如純Cu或Mo)靶面產生。常用的射線是MoKα射線,包括Kα1和Kα2兩種射線(強度2:1),波長為71.073pm。
應用:主要用于物相分析、晶體結構分析、織構分析,晶胞參數、結晶度、晶型含量等的測定
免責聲明
- 凡本網注明“來源:化工儀器網”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網絡有限公司-化工儀器網合法擁有版權或有權使用的作品,未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經本網授權使用作品的,應在授權范圍內使用,并注明“來源:化工儀器網”。違反上述聲明者,本網將追究其相關法律責任。
- 本網轉載并注明自其他來源(非化工儀器網)的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責,不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時,必須保留本網注明的作品第一來源,并自負版權等法律責任。
- 如涉及作品內容、版權等問題,請在作品發表之日起一周內與本網聯系,否則視為放棄相關權利。