F20膜厚測(cè)量系統(tǒng)工作原理分析
這是一種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、低成本、多功能桌面涂層厚度測(cè)量系統(tǒng),已安裝在全球 5,000 多個(gè)裝置中。它可用于廣泛的應(yīng)用,從研究和開發(fā)到制造現(xiàn)場(chǎng)的在線測(cè)量。
F20基于光學(xué)干涉法,可以在約1秒內(nèi)輕松測(cè)量透明或半透明薄膜的厚度、折射率和消光系數(shù)。
它還支持多點(diǎn)在線測(cè)量,并支持RS-232C和TCP/IP等外部通信,因此也可以從PLC或主機(jī)進(jìn)行控制。
當(dāng)入射光穿透不同物質(zhì)的界面時(shí)將會(huì)有部份的光被反射,由于光的波動(dòng)性導(dǎo)致從多個(gè)界面的反射光彼此干涉,從而使反射光的多波長(zhǎng)光譜產(chǎn)生振蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率,愈多的震蕩代表較大的厚度。而其他的材料特性如折射率與粗糙度也也能同時(shí)測(cè)量。
主要特點(diǎn)
兼容多種薄膜厚度(1nm 至 250μm)
兼容寬波長(zhǎng)范圍(190nm至1700nm)
強(qiáng)大的膜厚分析
光學(xué)常數(shù)分析(折射率/消光系數(shù))
緊湊型外殼
支持在線測(cè)量
主要用途
平板 | 單元間隙、聚酰亞胺、ITO、AR膜、 各種光學(xué)膜等 |
---|---|
半導(dǎo)體 | 抗蝕劑、氧化膜、氮化膜、非晶/多晶硅等 |
光學(xué)鍍膜 | 防反射膜、硬涂層等 |
薄膜太陽能電池 | CdTe、CIGS、非晶硅等 |
砷化鋁鎵(AlGaAs)、磷化鎵(GaP)等 | |
醫(yī)療保健 | 鈍化、藥物涂層等 |
基本應(yīng)用:
基本上所有光滑的、半透明或低吸收系數(shù)薄膜都可以測(cè)量。這包括幾乎所有的電介質(zhì)與半導(dǎo)體材料,例如:
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