如果您曾想過是否有比簡單滾動B掃描更有效的方法來進行焊縫篩選,不妨來了解一下我們的解決方案。隨著MXU軟件的更新,我們為OmniScan X3系列推出了創新的B掃描視圖,有可能改變這種耗費時間和注意力的技術。作為一種驗證工具,它可以讓您對評估更有信心,并幫助優化整個B掃描篩選過程。
我們稱其為合并B掃描,原因如下:
該軟件采用您習慣的橫斷面B掃描切片,并有效地將它們疊加在一起。
然后,所有的B掃描在OmniScan X3顯示器上顯示為一個易于解釋的視圖。
合并B掃描的工作原理?
想象一下,S掃描是一個帶有透明褶皺或鰭片的折扇。合并B掃描就像合上扇子,透過所有的鰭片進行觀察。
在標準的PAUT扇形掃描中,每個超聲軸位置(不考慮指示深度)的數據將會合并。其中的數據來源于扇形掃描中每個聲束的最大波幅和每個掃描位置(橫切片),因此潛在的指示將合并,與每個聲束的傳播軸垂直。合并B掃描是一個未校正的視圖,不涉及任何壓縮,所以沒有數據丟失。
也就是說,在選擇使用合并B掃描時,還需要考慮其他因素。當焊縫中指示的聲道分布不固定時,它有出色的檢測性能,這一般是自然發生的。但并不是所有的焊縫和PAUT配置都是一樣的,在某些情況下,特別是在扇形掃描覆蓋了大部分焊縫的情況下,可能會有焊縫的幾何指示出現在相似的聲程上。如果不進行調整,這些條件就不是使用合并B掃描的優化條件,但好消息是,仔細選擇用于合并的第一和最后一個聲束,可以改進圖像,這對缺陷篩選仍有顯著效果。
相控陣超聲測試(PAUT)B掃描基礎知識
即使是那些熟悉B掃描的人,有時也會錯誤地將其描述為“側視圖”。只有在談論0度檢測時,這才是準確的說法(如用于壁厚測量)。當涉及到角度聲束檢測時,這并不真正適用,例如焊接檢測中是角度聲束檢測。這是因為在角度聲束扇形掃描中,單個B掃描實際上顯示了不同的聲束,每個聲束相對于表面(或垂直于表面的深度軸)以不同角度傳播。
B掃描篩選技術通常由相控陣(PA)檢測人員教授并用于焊接檢測應用。在進行扇形掃描時,依次滾動瀏覽B掃描,就像滾動瀏覽S掃描的每個傾斜聲束實時產生的平面圖像。焊縫檢測人員在評估壓痕深度和確定哪些壓痕最深時,通常會應用B掃描數據視圖。
然而,使用這種技術識別和評估缺陷通常需要集中精力,以便:
識別幫助您從幾何回波中區分出可疑缺陷的模式。
在不同的B掃描中,比較可疑缺陷的嚴重程度和深度。
合并B掃描有助于減輕所涉及的一些工作,并通過其提供的強大功能簡化您的焊接檢測和分析過程。作為對標準B掃描篩選技術的補充,合并B掃描可以使您對評估充滿信心。
以下是它所提供的五大優勢的總結:
1. 進行更容易和更快的篩選
合并B掃描可以為檢測人員節省大量的時間和精力。由于在焊縫中檢測到的所有信號指示都可以顯示在一個數據視圖中,所以很容易一目了然地發現可疑的缺陷,并確認您沒有誤解或錯過任何東西。
由于所有的數據都呈現在一個視圖中,所以您可以清楚地從幾何回波和相關的漂移中區分出可疑的信號指示。
此外,通過全新改進布局,查看合并和未合并的B掃描數據更加方便:
B-S-A單組布局顯示更大的B掃描視圖
新的A-B-S多組布局顯示多個B掃描,無需切換。組可以單獨合并或取消合并,以方便比較和解釋。
A-B-S多組布局顯示多個B掃描(合并或不合并),無需在顯示圖像之間切換。此外,每組可以單獨合并或取消合并,以方便比較和解釋數據。
2.隔離相關角度以獲得更清晰的圖像
您可以通過仔細選擇對分析有幫助的聲束,使合并B掃描圖像更加清晰。調整數據源參數中的第一個和最后一個聲束可以使可疑的指示從不相關的回波中更清楚地顯示出來。
3.驗證缺陷篩選評估的準確性
OmniScan X3的快速訪問菜單使您能夠在標準B掃描視圖和合并B掃描之間來回切換。只需在B掃描數據顯示中按住即可打開菜單,然后選擇使用主動聲束和激活合并B型掃描功能。
您可以在實時采集和采集后分析中使用它。試用后,效果立現。您可將其作為比較B掃描數據的一種方式,并滿懷信心地驗證您的分析。
4.毫不猶豫地確認缺陷的深度
由于合并B掃描顯示了所有的聲束,包括顯示材料最深處的信號指示,所以您可以用它來幫助確認最深缺陷的位置。您會注意到,對于始于遠端表面的裂紋的檢測有了特別的改善。
通過定位合并B掃描的掃描光標,可以更容易地找到這種缺陷的最深部分。然后,您可以像往常一樣,使用S掃描來完成特征分析。
5.分析和評估過去和現在的所有數據
合并的B掃描從飛行時間的角度“觀察”回波,不太受聲束擴散的影響。這使得在合并B掃描中很容易確定缺陷的最深部分,并將掃描光標置于其上。
如前所述,合并B掃描視圖可以在OmniScan X3裝置上使用,在數據采集期間和采集后,可以在裝置上或在電腦上使用OmniPC軟件。由于OmniPC軟件與所有過去和現在的OmniScan數據文件格式(包括.opd和.oud)兼容,當您更新到OmniPC 5.13時,就可以將合并B掃描應用到以前采集的數據上。這包括使用OmniScan MX2和SX探傷儀獲取的數據文件。
額外好處:緩解B掃描篩選技術的學習曲線
如果您有使用和解讀B掃描的經驗,那么您在適應合并B掃描時就不會有任何問題。由于合并B掃描顯示了所有的聲束,包括產生最深層信號指示的聲束,所以初學者學習B掃描篩選技術也會容易得多。
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