Fischer薄膜測厚儀DualScope MP0儀器內置探頭,采用磁感應和渦流方法,簡單、快速、無損地測量涂層厚度。磁導率、電導率和幾何形狀(曲率和厚度等。)的影響相對較小。新的DUALSCOPE MP0采用了廣泛認可的Fischer探針技術,這是一種小型儀器,可以在很大程度上滿足您的測量需求。它測量精度高,界面友好,經久耐用。不復雜工件的現場測量尤其理想。內置探頭,使用磁感應和渦流方法,可以快速和無損測量涂層厚度。DUALSCOPE MP0可自動識別鐵或鋁等基材,并選擇合適的測量方法。可以顯示重要的統計參數。由于其良好的重復性和統一的標準校準功能,該儀器在同類產品中脫穎而出。
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