霍爾效應測試儀,是用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數等重要參數,而這些參數是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的,因此是理解和研究半導體器件和半導體材料電學特性必*的工具。該儀器為性能穩定、功能強大、性價比高的霍爾效應儀,在國內高校、研究所及半導體業界擁有廣泛的用戶和知*度。儀器輕巧方便,易于攜帶,主要用于量測電子材料之重要特性參數,如載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數等,薄膜或固體材料均可。本儀器系統由:電磁鐵、高精度電源、高斯計、高精度恒流源、高精度電壓表、霍爾探頭、電纜、標準樣品、樣品安裝架、系統軟件等構成。您也可以在淘寶網首頁搜索“錦正茂科技”,就能看到我們的企業店鋪,聯系更加方便快速!
樣品測試:
設置控制電流、磁場和霍爾片厚度,點擊“開始測試”按鈕,軟件將完成一鍵測試過程,直至計算出所有霍爾參數。每次測試完后,可選擇保存該計算結果值,然后點擊“清除顯示”按鈕,以進入下一次測試。
若保持磁場大小不變,改變控制電流的大小,可通過畫圖操作觀察Is 與 VH的關系;若保持控制電流大小不變,改變磁場的大小,可通過畫圖觀察 B 與 VH 的關系。您也可以在淘寶網首頁搜索“錦正茂科技”,就能看到我們的企業店鋪,聯系更加方便快速!
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