X射線熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer-XRF)是一種通過X射線激發樣品中元素的特征X熒光射線，探測其光子能量和數量來進行定性、定量分析，來實現快速、無損檢測的分析儀器。江蘇一六儀器有限公司一直專注于光譜測厚儀的研發和生產，近些年服務了眾多客戶，獲得了一直好評。今天就跟著光譜測厚儀生產廠家一六儀器來了解一下XTU系列的光譜測厚儀吧。

　　XTU系列光譜測厚儀，采用下照式C型腔體設計，不但可以測量各種微小樣品，即使大型超出樣品腔尺寸的工件也可測量，是一款測量涂鍍層成分及厚度性價比高、適用性強的機型.該系列儀器適用于平面、微小樣品或者微凹槽曲面深度30mm以內的樣品涂鍍層檢測。

　　快速精準移動定位：高精密微型移動滑軌，10-30mm(X-Y)/圈，精度0.005mm;

　　微焦X射線裝置：檢測面積可小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件;

　　高效率正比接收器：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達到穩定性;

　　變焦裝置及算法：可對各種異性凹槽進行檢測，凹槽深度測量范圍可達0-30mm;

　　對焦方便：下照式設計可以快速定位對焦樣品;

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