相控陣探傷儀可進(jìn)行快速檢測,并生成被測工件內(nèi)部結(jié)構(gòu)的精確、詳細(xì)的橫截面圖像。相控陣技術(shù)使用多個(gè)超聲晶片及電子時(shí)間延遲,創(chuàng)建可以電子方式傳播、掃描、掃查及聚焦的聲波,以進(jìn)行快速檢測、完整的數(shù)據(jù)存儲(chǔ),以及多角度的檢測。相控陣技術(shù)可提供極為可靠的測量結(jié)果。
選擇使用相控陣探傷儀時(shí),操作人員無需更換探頭或楔塊就能方便地利用一個(gè)探頭達(dá)到多個(gè)角度和聚焦深度。扇形掃描和精確的波束控制顯著地提高了探測缺
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