三明PP016示波器探針美國力科Teledyne LeCroy優勢報價

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PP016-10:1,10莫姆,300 MHz被動探測

三明PP016示波器探針美國力科Teledyne LeCroy優勢報價

被動探測

被動探測是示波器提供的標準探測器。 典型的被動探測提供10:1衰減和10 MΩ高輸入電阻的特性。 這種高輸入電阻意味著被動探測電路低頻信號的理想工具,因為加載在這些頻率小化。 被動探測器被設計用來處理至少400 v的電壓,有些高達600 v。 Teledyne LeCroy被動探測功能的衰減上銷告訴示波器波形自動規模不需要用戶輸入。

每個被動探測建議一個示波器,使用正確的被動探測與正確的示波器意味著探測器將適當補償在整個帶寬。 使用不同的示波器探針只會讓你彌補低頻率。

Teledyne LeCroy示波器的供應商,協議分析和相關的測試和測量解決方案,使公司在廣泛的行業設計和測試各種類型的電子設備。 自1964年建國以來,我們專注于創造產品,提高生產力,幫助工程師更快和更有效地解決設計問題。

示波器是設計師和工程師所使用的工具來測量和分析復雜的電子信號為了發展高性能系統設計和驗證電子為了提高市場的時候了。 設計師和工程師所使用的協議分析工具來生成和監控交通高速串行數據接口,包括DDR, PCI Express,光纖通道,串行ATA, SAS、USB等。 這兩個產品是至關重要的發展的各種要求設計應用程序。

我們利用這兩個重要產品領域相結合來解決苛刻的串行數據測試應用程序,提供量身定制的解決方案,幫助客戶完善他們的芯片,接口子系統和產品,利用這些重要的通信標準。 爆炸的串行數據通信技術的使用在半導體、電路板設備,計算機和外圍設備之間,我們針對越來越多的和重要的市場。

我們的示波器提供一個強大的組合的大型和信息顯示結合*波形分析功能通常根據提高工程師的生產力在特定的應用領域,如串行數據測試中,磁盤驅動器汽車總線測試和分析。

位置和設施

紐約總部設在栗嶺LeCroy銷售、服務和發展分支機構在美國和整個歐洲和亞洲。 LeCroy產品使用在各種各樣的行業,包括半導體、計算機、消費電子、軍事、航空、汽車、工業、電信通訊等。

HDO6000B是示波器波形生成和光譜分析融入樂器與毋庸置疑12位分辨率和一個充滿活力的15.6”顯示。

栗嶺,紐約,2021年4月20日-Teledyne LeCroy今天公布了新產品其行業的高清晰度示波器的家庭。 HDO6000B系列是令人信服的解決方案還沒有面臨的*問題今天的模擬,數字和混合信號設計人員。

物聯網和嵌入式和移動計算等行業趨勢地方*的約束設計工程師。 系統必須提供更多的功能和使用權力越來越少。 在這些要求應用程序中,電壓、電流和功率測量必須以提高速度和精度。 小信號波動和低利潤率使提取和分析這些信號更加具有挑戰性。

Teledyne LeCroy應對這些趨勢以其*的HD4096技術。 HD4096匯集了高采樣率12位adc、高信噪比放大器和低噪聲的系統架構。 示波器HD4096技術總是提供12位的垂直分辨率。 說:“沒有數字轉換器是婉美的羅伯特•集市”Teledyne LeCroy產品營銷總監,但一個8位系統相比,12位系統是接近皖美的16倍。 “競爭對手使用不同的設計方法來提高分辨率,對其他性能權衡,因此無法提供12位性能。

HDO6000B系列Teledyne LeCroy的新HD4096技術的實現。 覆蓋范圍從350 MHz到1 GHz的帶寬,HDO6000B系列提供了一個示例10 g / s的速度,內存250 Megapoints長。 壓縮包中有一個小得多的足跡比它的競爭對手,但仍有15.6”,1920 x1080顯示獲得的大圖像信號。 一個可選的內部函數發生器創建標準和任意波形,刺激測試設備的理想選擇。 排在包分析軟件行業完整的工具箱,包括可選的光譜分析軟件,模擬傳統頻譜分析儀的控制。 HDO6000B是次設計將這么多的功能集成到一個示波器提供12位分辨率。

這種廣泛的功能是由毛伊島的交通便利^®與OneTouch用戶界面。 毛伊島與OneTouch大幅簡化了測量設置和為用戶提供更快的答案當調試信號異常。 儀器也可以遠程控制使用毛伊島工作室,Teledyne LeCroy新的遠程控制和離線分析工具。

價格和可用性

HDO6000B示波器開始為16990美元。 他們提供在350 MHz帶寬,500 MHz和1 GHz。 可用性是ARO 6 - 8周。

關于Teledyne LeCroy

Teledyne LeCroy是一家主要生產*示波器,協議分析,和其他測試工具驗證性能,驗證合規和調試復雜的電子系統迅速和*。 自1964年成立以來,公司一直專注于將強大的工具納入創新產品,提高“Time-to-Insight”。 更快的時間洞察力使用戶能夠迅速找到并修復缺陷在復雜的電子系統,大幅提高上市時間為各種應用程序和終端市場。