從1953年至今,菲希爾公司不斷地在涂鍍層測 厚、材料分析、微硬度測量和材料測試領(lǐng)域發(fā) 展出創(chuàng)新型的測量技術(shù)。如今,菲希爾的測量技 術(shù)已在世界各地得到應(yīng)用,滿足客戶對儀器準確 度、精度和可靠性的要求。 作為在生產(chǎn)測量中使用X射線熒光法的,菲 希爾很早就意識到此方法在鍍層厚度測量和材料 分析領(lǐng)域的巨大潛力,因而開始研發(fā)和制造工業(yè) 級耐用的測量儀器。*一臺菲希爾X射線儀器在 二十世紀八十年代初就已面世。 從那時起,菲希爾不斷改進和研發(fā)X射線熒光技 術(shù),使得該項技術(shù)在今天居于**地位。其中的 一個例子是透明的狹縫設(shè)計,從而使用戶可以與 基本射線同方向查看樣品。另外,打開儀器艙門 自動彈出測量平臺(“彈出功能”)也是*次由 菲希爾實現(xiàn)的。在軟件方面,菲希爾是*個使用 *基本參數(shù)法來計算光譜的公司。 | 菲希爾在生產(chǎn)過程實行嚴格的質(zhì)量標準控制,在 對零部件進行苛刻的檢驗,確保菲希爾X射線儀 器有著很高的高可靠性。 目前,有超過10000臺X射線儀器投入使 用,而FISCHERSCOPE® X-RAY品牌也已成為強 大,可靠和耐用的X射線熒光測量設(shè)備的代名詞 的工業(yè)制造和科學研究都依賴于這些可靠且 精確的儀器設(shè)備。菲希爾一貫以持續(xù)的研發(fā)、先 進的設(shè)備和創(chuàng)新的軟件來迎接挑戰(zhàn)。因為只有經(jīng) 過精心構(gòu)思設(shè)計和按照高標準制造的產(chǎn)品,終 才能有很好的工作性能。也只有這樣的產(chǎn)品才能 配得上菲希爾的品牌。菲希爾是您可信賴的品 牌。 |
X射線熒光分析法 (XRFA)
能量散射X射線熒光光譜法(EDXRF)作為鍍層 | EDXRF作為一種常用測試方法,有著其突出的優(yōu) 勢。它幾乎可以測量所有工藝相關(guān)元素,并且工 作時無損且不接觸樣品。測量時間一般在數(shù)秒鐘 內(nèi),很少多于一分鐘。通常不需要復制的樣品制 備,即可進行快速測量。利用該方法,可以同時 測量均質(zhì)材料及鍍層的厚度和化學成分。不僅如 此,EDXRF方法檢測各種類型樣品里的微量有害 物質(zhì)。 此外,X射線熒光分析是一種清潔的測量方法, 測量過程不使用任何化學制品。由于有著合理精 巧的設(shè)計,X射線不會對操作人員和環(huán)境構(gòu)成任 何威脅:菲希爾X射線儀器是安全可靠的。 |
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