gigahertz-optik解說現代通用二極管陣列光譜輻射計的要求

  隨著二極管陣列的發展，光譜輻射計必須在功能的定義和元件的選擇中加以考慮，用作光學輻射的光度計的量。因此，僅具有可具有大動態范圍的二極管陣列檢測器才能執行不同性能的燈的測量。

  對于的測量，光譜輻射計的整個動態范圍必須*線性化，并提供，可追溯的校準。如果僅電子控制的動態范圍（積分時間）不足，則必須提供附加的阻尼濾波器（需要濾波器輪）。就測量系統的長期穩定性而言，該濾光輪必須具有機械強度。在諸如短時間操作中的LED分類的時間關鍵應用中，電子控制的動態范圍必須非常大，以至于在測量期間不需要盡可能耗時的濾波器變化。

  對于測量，通過暗測量對CCD二極管陣列檢測器進行自動暗調整是現有技術。用于分類（裝箱）前端和后端LED的光譜輻射計還必須能夠同步測量，以便對測試LED進行短期通電。D. 對于測量，通過暗測量對CCD二極管陣列檢測器進行自動暗調整是現有技術。用于分類（裝箱）前端和后端LED的光譜輻射計還必須能夠同步測量，以便對測試LED進行短期通電。D. 對于測量，通過暗測量對CCD二極管陣列檢測器進行自動暗調整是現有技術。

  光譜儀（分箱）必須允許測量的同步到測試LED的短時間通電的排序使用前端和后端LED也。D. 小時。觸發輸入和輸出是必要的。對于閃光測量，d。 小時。為了測量閃光，需要電子快門，其能夠在觸發測量之前對所有像素進行瞬時（ns）歸零。光通量，發光強度和發光強度分布的測量需要諸如積分球，光強度光學器件和測角儀等附件。有了這個，Spektralradiometer必須能夠重復連接。將光譜輻射計直接安裝到附件上避免了柔性光纖連接的影響。對于顏色測量，除其他外，根據CIE  13.3和CIE  15 實施的數學以及TM-30-15是必要的。對于LED或半導體行業的應用，它還必須符合CIE標準 S025和LM-79-08。

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它的一個*的特點是創新BITEC檢測器，其是基于背面減薄CCD二極管陣列和V（拉姆達）上的光譜儀單元的組合過濾Si光電二極管提供在的直線性，穩定性和測量速度方面具有優勢。兩種傳感器可以*獨立或者只單獨使用，但它也是傳感器的相互校正其共同利益與它帶來