使用D79X雙晶探頭時(shí)啟動儀器
1.將探頭插入到儀器頂部的探頭接口中。
2.按開機(jī)鍵，啟動儀器。
3.擦去探頭端部的耦合劑，然后按[第二功能]， [校準(zhǔn)零位]〔零位補(bǔ)償)鍵。
現(xiàn)在45MG可以使用隨儀器附送的試塊的默認(rèn)聲速得到厚度讀數(shù)。

使用單晶探頭時(shí)啟動儀器(可選)
45MG在出廠前就裝好了適用一用戶已購買探頭的默認(rèn)設(shè)置，默認(rèn)設(shè)置使用隨儀器附送的不銹鋼試塊的大約聲速。
1、將探.頭線纜連接到探頭，然后再將線纜插入到儀器頂部的T/R1接口中。
2、按電源鍵，打開儀器。
3、按[第二功能],[凍結(jié)](回放探頭設(shè)置)鍵。
4、在菜單中，選擇默認(rèn)單晶，或任何自定義的單晶選項(xiàng)。
5、在默認(rèn)單晶屏幕的選擇設(shè)置列表中，加亮顯示.與所用探.頭對應(yīng)的設(shè)置，然后按[確定]鍵。
6、在激活屏幕中，如果需耍，根據(jù)所用探頭的特性編輯參數(shù)，然后按[測量]鍵。
現(xiàn)在45MG可以使用隨儀器附送的試塊的默認(rèn)聲速得到厚度讀數(shù)。

設(shè)置探頭
45MG 儀器可以使用所有單晶(可選購軟件)和雙晶探頭進(jìn)行操作。 45MG 儀器會自動識別標(biāo)準(zhǔn) D79雙晶探頭， 還會自動導(dǎo)入適當(dāng)?shù)捻斚榷x的設(shè)置。 預(yù)先定義的設(shè)置中包含隨儀器附送的不銹鋼階梯試塊的超聲聲速。 在使用雙晶探頭時(shí)， 需要進(jìn)行探頭零位補(bǔ)償。對于單晶或高穿透軟件選項(xiàng)， 以及單晶探頭， 需要手動調(diào)用適當(dāng)?shù)脑O(shè)置。 45MG 儀器出廠時(shí)已根據(jù)用戶所購探頭配置了默認(rèn)設(shè)置， 這些設(shè)置使用隨機(jī)附送的不銹鋼試塊的大約聲速。 為便于用戶使用， 測厚儀中的默認(rèn)狀態(tài)已被選好。
 

校準(zhǔn)
校準(zhǔn)是使用已知探失， 在特定的溫度下， 針對某種材料， 以進(jìn)行測量為目的而對儀器進(jìn)行調(diào)整的過程。 在檢測某種特殊材料之前， 經(jīng)常需要校準(zhǔn)儀器。 測量度與儀器進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)的度*相同。
需要進(jìn)行以下三種類型的校準(zhǔn):
探頭零位補(bǔ)償〔 [零位補(bǔ)償]鍵)
只用于雙晶探頭， 校準(zhǔn)聲束在每個(gè)雙晶探頭延遲塊中的傳播時(shí)間。 這個(gè)補(bǔ)償值針對不同的探頭有所不同， 且隨溫度而變化。 啟動測厚儀、 更換探頭或探頭溫度有顯著變化時(shí)， 必須進(jìn)行探頭零位補(bǔ)償。
材料聲速校準(zhǔn)（[校準(zhǔn)聲速]鍵)
校準(zhǔn)材料聲速需使用一個(gè)帶有己知厚度且材料與被測上件相同的厚試塊進(jìn)行， 或者以手動方式輸入一個(gè)以前確定的材料聲速。 測量每一種新材料時(shí)， 都需進(jìn)行這項(xiàng)操作。
零位校準(zhǔn)（[校準(zhǔn)零位]鍵）
進(jìn)行零位校準(zhǔn)需使用一個(gè)帶有己知厚度且材料與被測上件相同的薄試塊。 與探頭零位補(bǔ)償和材料聲速校準(zhǔn)不同的是， 零位校準(zhǔn)操作只有在需要*jue對精度時(shí)才有必要進(jìn)行(度高于±0.10 毫米)。 只需在使用新的探頭和材料組合時(shí)進(jìn)行一次零位校準(zhǔn)。 當(dāng)探頭溫度變化時(shí)， 不需要重復(fù)零位校準(zhǔn)， 但要進(jìn)行探頭零位補(bǔ)償。