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S-116表面粗糙度儀 光潔度檢測儀英國泰勒S-116
S-116表面粗糙度儀 光潔度檢測儀英國泰勒S-116：
1.功能特點
一個50mm長的測針升降裝置和直角附件；360度任意旋轉，任何方向任何高度測量；輕觸快捷鍵即可進行所有關鍵設置。迷你USB 2.0用于充電或連接電腦傳輸數據。A類型USB 2.0可連接便攜式打印機或USB存儲設備。防滑的V型腳架設計使系統能夠用在平滑或彎曲的平面上。測針還能夠反方向底部測量。
2.標準配置:
顯示單元;112-1502標準測針;測針連接線;多刻線樣板;測針提升機構;接口充電器;使用手冊;USB通訊電纜;儀器箱
3.可選附件
測試平臺：00級大理石平板：400X250X70mm有效高度：280mm。可調Y軸V型鐵可調范圍：±5mmV型鐵長度100mm
S-116表面粗糙度儀 光潔度檢測儀英國泰勒S-116技術參數：
數據顯示 | 顯示屏每頁顯示7個測試結果，屏幕上可顯示輪廓圖（剖面圖） | ||
可以打印測試結果和圖形 | |||
使用Talyprofile軟件可以連接電腦，分析測試結果 | |||
數據存儲 | 儀器可以存儲100個測試數據和一個圖形 | ||
儀器支持U盤zui大4G，zui多可存儲39,000個圖形，每批可存儲10萬個測試結果，共70批數據。 | |||
使用Talyprofile軟件與電腦連接可以存儲無限數據。 | |||
電源： | 充電器 | USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz | |
充電時間 | 4小時 | ||
電池壽命 | 充電一次可以做2000次測試 | ||
待機時間 | 5000小時,由待機狀態到開機測試狀態，zui長時間不超過1秒I | ||
自動關機 | 30秒– 6小時可以自行設置 | ||
技術指標 | 測量范圍 | 200 um 100 um 10 um | |
分辨率 | 100 nm 20 nm 10 nm | ||
底噪(Ra | 250 nm 150 nm 100 nm | ||
重復精度 (Ra) | 1%測試值+底噪 | ||
傳感器原 | 電感 | ||
測量力 | 50-300mg | ||
測針針尖半徑 | 標配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin) | ||
測試方式 | 滑動掃描 | ||
自動軟件校準 | 標準：ISO4287 | ||
測試參數 | 三個取樣長度 | 0.25mm、0.8mm、2.5mm | |
二個濾波器 | 2CR、Gaussian | ||
評定長度 | 0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選 | ||
zui大行程 | 17.5mm | ||
測試速度 | 測試速度 | 1mm/sec(0.04 in/sec) | |
| 回程速度 | 1.5mm/sec(0.06in/sec) | |
執行標準 | ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007 | ||
ISO標準可以測量12個參數 | Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max | ||
ASME標準可以測量11個參數 | Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda | ||
ASME標準可以測量12個參數 | Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc | ||
ASME標準可以測量13個參數 | R3z (Daimler Benz) | ||
ASME標準可以測量14個參數
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SURTRONIC S116比SURTRONIC 25特點：
電池由堿性9V改為鋰電充電電池；顯示屏為觸摸屏；可以顯示測試圖形；SURTRONIC 25只能測試10個參數，S116在不同標準下可以測量12、11、14個參數；原來SURTRONIC 25使用電位器校準測試結果，現在改為自動軟件校準。方便使用；顯示屏顯示的結果（數據和圖形）可以旋轉，可以方便的從四個方向觀察測試結果；儀器底部為V形，測試軸類部件方便可靠；測試數據存儲增加了存儲圖形功能；可以使用U盤直接存儲，一個4G容量U盤可存儲3.9萬個圖形，數據可以存儲70批次，每批次為10萬個測試數據。
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