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隨著科學技術的飛速發展，各行各業對各種氣體的要求越來越高，特別是氣體中微量水分的測量就顯得更加重要。 露點法是一種古老的溫度測量方法、隨著電子技術的發展，露點技術趨于完善。現代的光點露點儀采用熱電制冷，并且可以自動補償零點和連續跟蹤測量露點。露點儀建立在可靠的理論基礎上，具有準確度高，測量范圍寬的特點，其準確度僅次于重量法濕度計。因此，它不僅是一種工作儀器，而且也是長期以來普遍采用的標準儀器。露點儀廣泛用于工業過程和實驗室的溫度測量與控制，以及氣體行業中水分指標測量等。在現代溫度測量技術中占有相當重要的位置。 如何正確使用露點儀以及在實際測量中應注意的問題：
1. 鏡面的污染對露點測量的影響 在露點測量中，鏡面污染是一個突出的問題，特別是工業流程氣體分析污染的影響是比較嚴重的，但即使是在純氣體的測量中鏡面的污染亦會隨時間的增加而積累。為了消除污染的影響，zui直觀的方法是對被測氣體進行過濾。同時根據具體情況定期或隨時清洗鏡面。此外，通過對鏡面的加熱，并通氣吹除污染雜物，在污染比較明顯的情況下也可以多次重復進行節露和消露過程來實現。
2. 低霜點測量中的問題 露點儀是微量水測量中為數不多的zui有效的手段之一。但是在測量中有些問題必須給予充分的注意。首先是影響檢測的霜層厚度問題。在低含水量的情況下，霜層很薄，變化也慢，增加了檢霜的困難，如露點低于-65℃，鏡面上水分子移動性很小，結晶速度相應下降，從霜層的出現到相對穩定需要一定時間。霜點溫度越低，困難越大，測量誤差也迅速增加。
研究表明，當霜點溫度接近-85℃是鏡面上形成藍色絲狀結晶的薄霧。在這個溫度附近霜層的質量密度10-8gm-2相當于一個分子層的厚度，由此可見，在更低的霜點溫度下測量是難以進行的。
另一個是過程問題，這種現象容易在高空探測中發生。 在低溫下，由于冰的結晶過程緩慢，往往在達到霜點溫度時霜層還未出現，當溫度繼續降低，水開始結冰，在過飽和狀態下霜層迅速形成。但此時的飽和水氣壓不是冰而應該是過冷水的飽和水氣壓，如上所述，由于過冷現象，霜點測量誤差有時高達幾度，因此，低霜點測量要特別小心，保持足夠長的平衡時間。
除上所述還需注意下列幾個問題。 ü 氣路系統一定要密封性好，以防止外界環境水分往里滲漏 ü 如果被測氣體直接排放入大氣，應考慮大氣中的水分向測量系統內部擴散的問題，zui常用的辦法時在排氣口接上一段適當長的管子，其長度個管徑以不影響測量腔的壓力為原則。 ü 取樣管要盡量短，盡量減少接頭的數量和避免“死空間”，以減少本底水分的干擾。 ü 取樣管道要選用滲水性強的材料，如不銹鋼，聚四氟乙烯等。
1. 鏡面的污染對露點測量的影響 在露點測量中，鏡面污染是一個突出的問題，特別是工業流程氣體分析污染的影響是比較嚴重的，但即使是在純氣體的測量中鏡面的污染亦會隨時間的增加而積累。為了消除污染的影響，zui直觀的方法是對被測氣體進行過濾。同時根據具體情況定期或隨時清洗鏡面。此外，通過對鏡面的加熱，并通氣吹除污染雜物，在污染比較明顯的情況下也可以多次重復進行節露和消露過程來實現。
2. 低霜點測量中的問題 露點儀是微量水測量中為數不多的zui有效的手段之一。但是在測量中有些問題必須給予充分的注意。首先是影響檢測的霜層厚度問題。在低含水量的情況下，霜層很薄，變化也慢，增加了檢霜的困難，如露點低于-65℃，鏡面上水分子移動性很小，結晶速度相應下降，從霜層的出現到相對穩定需要一定時間。霜點溫度越低，困難越大，測量誤差也迅速增加。
研究表明，當霜點溫度接近-85℃是鏡面上形成藍色絲狀結晶的薄霧。在這個溫度附近霜層的質量密度10-8gm-2相當于一個分子層的厚度，由此可見，在更低的霜點溫度下測量是難以進行的。
另一個是過程問題，這種現象容易在高空探測中發生。 在低溫下，由于冰的結晶過程緩慢，往往在達到霜點溫度時霜層還未出現，當溫度繼續降低，水開始結冰，在過飽和狀態下霜層迅速形成。但此時的飽和水氣壓不是冰而應該是過冷水的飽和水氣壓，如上所述，由于過冷現象，霜點測量誤差有時高達幾度，因此，低霜點測量要特別小心，保持足夠長的平衡時間。
除上所述還需注意下列幾個問題。 ü 氣路系統一定要密封性好，以防止外界環境水分往里滲漏 ü 如果被測氣體直接排放入大氣，應考慮大氣中的水分向測量系統內部擴散的問題，zui常用的辦法時在排氣口接上一段適當長的管子，其長度個管徑以不影響測量腔的壓力為原則。 ü 取樣管要盡量短，盡量減少接頭的數量和避免“死空間”，以減少本底水分的干擾。 ü 取樣管道要選用滲水性強的材料，如不銹鋼，聚四氟乙烯等。
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