涂層測(cè)厚儀操作規(guī)
一、技術(shù)參數(shù)
? 采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法。通過(guò)選擇相應(yīng)的測(cè)頭,即可測(cè)量磁
性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度,又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋
層的厚度;
? 測(cè)量范圍:(0~1250)μm(F1、N1測(cè)頭),F10測(cè)頭可達(dá)10mm;
? 分辨率:0.1μ(F1、N1測(cè)頭)
? 示值精度:±(3%H+1)μm;H為被測(cè)涂層厚度
? 顯示方法:高對(duì)比度的段碼液晶顯示,高亮度EL背光;
? 存儲(chǔ)容量:可存儲(chǔ)20組(每組zui多50個(gè)測(cè)量數(shù)值)測(cè)量數(shù)據(jù)
? 單位制:公制μm、英制(mil)、可自由轉(zhuǎn)換
? 工作電壓:3V(2節(jié)5號(hào)堿性電池)
? 持續(xù)工作時(shí)間:大于200小時(shí)(不開(kāi)背光燈)
? 通訊接口:USB1.1,可與PC機(jī)連接、通訊
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