數(shù)字式四探針測試計
產(chǎn)品說明
CX9-1934B型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置,它可以測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率,測量擴散層的薄層電阻(亦稱方塊電阻)。換上特制的四探針測試夾具,還可以對金屬導(dǎo)體的低、中值電阻進行測量,適用于半導(dǎo)體、太陽能行業(yè)的篩選。
產(chǎn)品特點
儀器由主機、測試探頭(可選配測試臺)等部分組成,測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。主機主要由數(shù)控恒流源,高分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成,自動轉(zhuǎn)換量程。測試探頭高分子材料和高耐磨碳化鎢探針制成,故定位準確、游移率小、壽命長。儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測量簡便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點。(自動調(diào)零)
技術(shù)參數(shù)
型號 CX9-1934B型
測量范圍 電阻率:10-2~102Ω-cm;方塊電阻:10-1~103Ω/□;電阻:10-3~9999Ω
可測半導(dǎo)體材料尺寸 直徑:Φ15~100mm; 長(或高)度: ≤400mm
外形尺寸 主機 170mm(D)×130 mm(W)×50mm(H)
電源 功 耗:<1W; 電源適配器:輸入:220V±10% 50Hz; 輸出:DC5V±10%
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