日立X射線熒光分析儀在電子儀器中是一款重要的設備，射線熒光分析技術可以分為兩大類型：波長色散X射線熒光分析(WDXRF)和能量色散X射線熒光分析(EDXRF);而能量色散型又根據探測器的類型分為(Si-PIN)型和SDD型。在不同的應用條件下，這幾種類型的技術各有其突出的特點。目前，X射線熒光分析不僅材料科學、生命科學、環境科學等普遍采用的一種快速、準確而又經濟的多元素分析方法。也是X射線熒光光譜儀也是野外現場分析和過程控制分析等方面儀器之一。同時，成為地質、冶金、建材、石油化工、半導體工業和醫藥衛生等領域的重要分析手段。

 日立X射線熒光分析儀正好能滿足冶金分析的特殊要求,一臺多道X射線熒光光譜儀能在一分鐘之內分析20~30個元素,而其分析精密度*可以和濕法化學分析相媲美,分析范圍又很寬,從幾個ppm到100%.這樣可以節省大量人力,提高工作效率,它又很少使用酸和特種化學試劑,不會污染環境.

  依據現代色譜光譜儀器的作業原理,日立X射線熒光分析儀能夠分為兩大類:經典光譜儀和新式光譜儀.經典光譜儀器是建立在空間色散原理上的儀器;新式光譜儀器是建立在調制原理上的儀器.經典光譜儀器都是狹縫光譜儀器.調制光譜儀對錯空間分光的,它選用圓孔進光依據色散組件的分光原理,現在,它己被廣泛使用于簡直一切的光譜丈量,分析及研討作業中,格外適應于對弱小信號,瞬變信號的檢查.那么礦石實踐中發現受儀器穩定性、石灰石質量波動、物料細度等綜合因素的影響，熒光分析結果尤其是SiO2、CaO偏差相對較大。用三率值控制生料配料將會加劇生料質量的不穩定性，加之粉末壓片法不能*消除礦物效應和顆粒效應，頻繁重做曲線又不太現實。

 因此嘗試在用監測樣監控儀器穩定性的基礎上，跟蹤影響儀器的各種因素加以修正，使之可以持續指導生產。因此，公司以生料CaO、Fe2O3作為三組分配料控制指標（CaO±0.20Fe2O3±0.10），根據每天熒光檢驗與分析對比結果偏差實時修正儀器（SiO2偏差小于0.35不予修正，只調整CaO配料指標），確保分析結果準確。此外，當生料熒光樣品粉磨機、研缽、裝樣盒更換時，都需要在使用前進行數據對比并修正，