FISCHERSCOPE XDAL X射線熒光測厚儀概述：

        X 射線熒光測試儀，帶有可編程的 X/Y平臺和Z軸，可自動測量鍍層厚度和分析材料組分

FISCHERSCOPE XDAL X射線熒光測厚儀特點：

• 配備了半導體探測器，由于有更好的信噪比，能更精確地進行元素分析和薄鍍層測量
• 使用微聚焦管可以測量較小的測量點，但因為其信號量較低，不適合測量十分細小的結構  
• 底部C型開槽的大容量測量艙
• 有彈出功能的快速、可編程XY平臺

典型應用領域：

• 鍍層和合金的材料分析（還適用于薄鍍層和低含量成分）
• 來料檢驗，生產監控
• 研究和開發
• 電子工業
• 接插件和觸點
• 黃金、珠寶和鐘表工業
• 可以測量數納米薄的鍍層，如印刷線路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層
• 痕量元素分析
• 在有“高可靠性”要求的應用中確定鉛（Pb）含量
• 硬質鍍層分析  

　　X射線測厚儀原理

　　XRAY測厚儀原理是根據XRAY穿透被測物時的強度衰減來進行轉換測量厚度的，即測量被測鋼板所吸收的X射線量，根據該X射線的能量值，確定被測件的厚度。由X射線探測頭將接收到的信號轉換為電信號，經過前置放大器放大，再由測厚儀操作系統轉換為顯示給人們以直觀的實際厚度信號。

　　X射線測厚儀適用范圍

　　XRAY測厚儀適用于生產鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產品的企業，可以與軋機配套，應用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中，XRAY測厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機生產過程中對板材厚度進行自動控制。

　　菲希爾電解測厚儀 - 用于庫侖電量分析的涂層厚度測量儀器。