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電子線路板的主要破壞原因之一是由熱膨脹引起的問題。要防止這種情況發(fā)生，電子工

程師采用熱導(dǎo)體來發(fā)散熱量，用低膨脹性材料來配合低膨脹率的硅片和陶瓷絕緣體的

使用 。熱機(jī)械分析(TMA) 長期以來應(yīng)用于測量線路板、電子元件和組成材料的熱膨脹

(CTE)。針對玻璃化轉(zhuǎn)變溫度、熱膨脹系數(shù)變化的點(diǎn)、樣品軟化和應(yīng)力釋放效應(yīng)的發(fā)生，已經(jīng)建立起成熟可靠的標(biāo)準(zhǔn)測試方法。對于層狀復(fù)合產(chǎn)品，TMA 相應(yīng)的測試方法可以確定在評估升溫過程中材料的分層所需時間。TMA4000 的設(shè)計大大簡化了上述測試過程，非常適用于測量低膨脹率的小器件的膨脹。本應(yīng)用文章提供了這些標(biāo)準(zhǔn)方法

的一些案例。

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