詳細介紹
EyeTech 簡介
EyeTech激光光阻粒度粒形分析儀能夠精確測量樣品尺寸、粒形和濃度,形成完整的顆粒大小表征。光阻技術(LOT)與視頻分析生成的綜合信息,結果可以顯示在大量的表格和圖表中,可以自定義以顯示所需的信息,可通過直觀的數據報告軟件訪問。這項技術提供了令人興奮的優點組合:測量是在單個顆粒上進行的,因此分辨率遠高于傳統衍射法;與傳統其他方法不同,測量系統無需校準,并且重要的是測量結果不依賴與被測樣品的物理/光學性質。
激光光阻技術
EyeTech激光光阻粒度粒形分析儀能夠精確測量樣品尺寸、粒形和濃度,形成完整的顆粒大小表征。光阻技術(LOT)與視頻分析生成的綜合信息,結果可以顯示在大量的表格和圖表中,可以自定義以顯示所需的信息,可通過直觀的數據報告軟件訪問。這項技術提供了令人興奮的優點組合:測量是在單個顆粒上進行的,因此分辨率遠高于傳統衍射法;與傳統其他方法不同,測量系統無需校準,并且重要的是測量結果不依賴與被測樣品的物理/光學性質。
EyeTech Combi 特點
◆ 超高分辨率:可記錄每個顆粒數據
◆ 無水合作用影響:直接測量真實粒徑
◆ 無需額外參數:與物理光學性質無關
◆ 多參數表征:粒徑濃度均可檢測
◆ 測量方法:無需準直或標定更寬的濃度范圍:與其他測量方法相比,
◆ 可檢測更低或更高濃度的樣品
EyeTech Combi 應用
? 精確分析和表征球形,非球形及細長顆粒。
? 同時獲得粒度、濃度和形狀結果
? 模塊化設計適用于一系列干濕應用
? 操作過程中樣品的實時可視化
? 可以分析液體,乳劑,干粉,纖維,磁性顆粒,加熱液體和氣霧劑中的顆粒