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Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀 詳細(xì)摘要: Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀*結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相...
產(chǎn)品型號: 所在地:北京市 更新時間:2024-09-02 參考價: 面議 在線留言
美國布魯克海文儀器公司 |
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