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綜合薄膜測量軟件
測量n, k,和膜厚
該軟件包是為R(λ)和T(λ)測量的高級分析而設計的。
疊層膜分析
可以測量單個薄膜和層疊膜的每一層的薄膜厚度和折射率。
大量色散模型
集成的色散模型用于描述所有常用材料的光學特性。利用快速擬合算法，通過改變模型參數將計算得到的光譜調整到實測光譜。
用于光譜數據的高級分析的SENTECH FTPadv Expert軟件包基于反射和透射測量確定薄膜厚度、折射率指數和消光系數。它擴展了薄膜厚度探針FTPadv的標準軟件包，用于更復雜的應用，包括未知或非恒定光學性質的材料。可以在光滑或粗糙、透明或吸收襯底上測量單個透明或半透明膜的膜厚、折射率指數和消光系數。該軟件允許對復雜層疊進行分析，可以確定各疊層的參數。
FTPadv Expert 薄膜測量軟件具有FTPadv標準軟件中的用戶友好和基于配方操作的概念。具有突出擬合參數的光學模型、測量和計算的反射光譜，并且結果同時顯示在操作屏幕上。
該軟件包包括基于表格化材料文件以及參數化分散模型的大型和可擴展的材料庫。
FTPadv Expert軟件可選配用于膜厚探針FTPadv和反射儀RM 1000和RM 2000軟件包的一部分。
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