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當前位置：玉崎科學儀器（深圳）有限公司>>METTLER/梅特勒>>自動天平>> XPR226CDR/AC玉崎科學METTLER梅特勒 進口原裝電子天平
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器精度 | 百萬分之一克 | 儀器量程 | 5000g以上 |
| 儀器種類 | 分析天平 | 應用領域 | 醫療衛生,化工,綜合 |
玉崎科學METTLER梅特勒 進口原裝電子天平
玉崎科學METTLER梅特勒 進口原裝電子天平
確保一次性稱量準確
集成的StatusLight™、LevelControl和GWP Approved協同作用，確保滿足正確稱量的所有相關條件。
StaticDetect靜電檢測
由于具備StaticDetect靜電檢測功能，XPR微量分析天平和分析天平可檢測樣品和容器的靜電荷。
隨時可進行審核
將XPR分析天平連接至LabX軟件，為法規遵從和數據完整性提供全面支持。
| 最大秤量 | 220 g/121 g |
| 可讀性 | 0.01 mg 0.005 mg |
| 重復性（典型） | 0.004 mg |
| 最小稱量值（符合USP，允差為0.1%，典型） | 8 mg |
| 穩定時間 | 5 s |
| 校正 | 內部（全自動/FACT） |
| 接口 | USB-B（連接至設備） RS232（集成式/選件） USB-A（連接至設備） 藍牙（可選） 以太網 (LAN) |
| 用戶管理 | 密碼保護 用戶權限 用戶數量不受限制 |
| 認證 | 是 |
| 秤盤尺寸 (寬x深) | 73 mm x 78 mm |
| 線性誤差（典型）± | 0.1 mg |
| 外形尺寸 (高x寬x深) | 292 mm x 195 mm x 485 mm |
| 文檔選項 | 打印 基本電子文檔 自動文檔記錄（符合21 CFR第11部分的規定） |
| 合規性選項 | 數據完整性 日志歷史（符合21 CFR第11部分的規定） 密碼保護 稱量日志 日志歷史（基本元數據） |
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