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| 應用領域 | 綜合 |
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Z掃描測試系統-ZTS100主要技術指標
精密光學位移臺
速度 | 30 mm/s |
最小分辨率 | 0.1 μm |
重復定位精度 | ＜2 μm |
功率探測器 | |
測試波長 | 350-1700 nm |
功率檢測范圍 | 50 nW-40 mW |
抖動消除 | 參比雙通道信號同時采集 |
Z掃描測試系統-ZTS100應用實例
實驗條件
樣品名稱 | 單晶硅 |
激發光波長 | 1030 nm |
探測光波長 | 1030 nm |
大連創銳光譜科技有限公司基于自主創新的時間分辨光譜技術，致力于推動光譜技術在科研和工業領域的深入應用。在科研儀器領域，創銳光譜由一線專家帶隊，是目前國內極少具備瞬態光譜獨立研發-生產-應用完整能力體系的團隊。創銳光譜以時間分辨光譜核心技術，超快瞬態吸收光譜系統為核心產品，打破進口壟斷格局。主要產品包括瞬態吸收光譜系統、共聚焦熒光成像系統、DPSS納秒激光器及高速探測器。在工業半導體檢測領域，公司以光譜技術創新為核心立足點，已迅速完成碳化硅襯底、外延、氮化鎵、鈣鈦礦電池等多領域布局。
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