目錄:上海首立實業有限公司>>物理性能測試儀器>>材料試驗機系列>> XP204 分析天平
規格 - XP204 分析天平 | |
zui大稱量值 | 220 g |
可讀性 | 0.1 mg |
Minimum weigh typical acc. USP | 120 mg |
Minimum weigh typical, U=1%, sd=2 | 8 mg |
去皮范圍 | 0...220 g |
重復性 | 0.05 - 0.07 mg |
線性 | 0.2 mg |
偏心負載 | 0.25 mg |
內部砝碼校準 | ProFACT專業全自動校準技術專業級全自動校準技術, 溫度漂移和時間觸發的全自動內校 |
外部砝碼校準 | 用戶砝碼 |
靈敏度精度 | 3.0 x 10^-6 •Rnt |
靈敏度穩定性 | 1 x 10^-6/a •Rnt |
色nsitivity off色t | 3x10-6·Rnt |
靈敏度(溫度取樣泵漂移) | 1 x 10^-6/°C •Rnt |
穩定時間 | 1.5 s |
接口 | RS-232C |
尺寸 | 263x487x322 mm DxH |
防風罩可用高度 | 235 mm |
秤盤尺寸 | 78 x 73 mm |