目錄:上海首立實業有限公司>>物理性能測試儀器>>材料試驗機系列>> XP56 微量天平
| 規格 - XP56 微量天平 | |
| zui大稱量值 | 52 g |
| 可讀性 | 1 µg |
| Minimum weigh typical acc. USP | 2.1 mg |
| Minimum weigh typical, U=1%, sd=2 | 0.14 mg |
| 去皮范圍 | 0 - 52 g |
| 重復性 | 1.5 µg |
| 線性 | 20 µg |
| 穩定時間（典型） | 3.5s |
| 內部砝碼校準 | ProFact, 溫度漂移和時間觸發的全自動內校 |
| 外部砝碼校準 | 可選 |
| 色nsitivity off色t | 2.5x10-6·Rnt |
| 靈敏度（溫度取樣泵漂移） | 1x10-6/°C·Rnt |
| 靈敏度（長時間穩定） | 1x10-6/a·Rnt |
| 接口 | RS-232C, Bluetooth, Ethernet, PS2, LocalCAN |
| 秤盤尺寸 | 40x40 mm |
| 稱量盤上方的有效高度 | 111 mm |
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