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日本進(jìn)口nesstech液體/氣體填充溫度計(jì)船用 SEGTEMP50 (2SUG1A)它具有無汞氣體膨脹無齒輪直聯(lián)結(jié)構(gòu),外殼內(nèi)采用高粘度硅膠密封。由于其具有優(yōu)異...
美國beckman手持式空氣顆粒計(jì)數(shù)器監(jiān)測(cè)環(huán)境 HHPC2+/3+/6+MET ONE HHPC+ 系列手持式空氣顆粒計(jì)數(shù)器適用于 ISO 第 5-7 級(jí)(FE...
TANAKA日本日酸高純度氣體分析壓力調(diào)節(jié)器 TANAKA日酸 S-LABOⅡ LAB2系列非常適合使用標(biāo)準(zhǔn)氣體和高純度氣體進(jìn)行各種分析和研究
日本taimei氧化鋁球油墨/顏料/涂料研磨分散精細(xì)且均勻的α-氧化鋁晶體結(jié)構(gòu)提供了高耐磨性和抗裂性,實(shí)現(xiàn)了驚人的長壽命。例如,研磨氧化鋁粉末時(shí),其耐磨性是市售...
taimei日本高硬度氧化鋁球電池材料研磨分散精細(xì)且均勻的α-氧化鋁晶體結(jié)構(gòu)提供了高耐磨性和抗裂性,實(shí)現(xiàn)了驚人的長壽命。例如,研磨氧化鋁粉末時(shí),其耐磨性是市售氧...
日本taimei電子元件材料研磨分散用氧化鋁球精細(xì)且均勻的α-氧化鋁晶體結(jié)構(gòu)提供了高耐磨性和抗裂性,實(shí)現(xiàn)了驚人的長壽命。例如,研磨氧化鋁粉末時(shí),其耐磨性是市售氧...
Taimei大明化學(xué)耐腐蝕氧化鋁珠研磨、分散用精細(xì)且均勻的α-氧化鋁晶體結(jié)構(gòu)提供了高耐磨性和抗裂性,實(shí)現(xiàn)了驚人的長壽命。例如,研磨氧化鋁粉末時(shí),其耐磨性是市售氧...
大明化學(xué)taimei高純度耐磨損不開裂氧化鋁珠精細(xì)且均勻的α-氧化鋁晶體結(jié)構(gòu)提供了高耐磨性和抗裂性,實(shí)現(xiàn)了驚人的長壽命。例如,研磨氧化鋁粉末時(shí),其耐磨性是市售氧...
日本大明化學(xué)TAIMEI粉碎分散用高純氧化鋁珠精細(xì)且均勻的α-氧化鋁晶體結(jié)構(gòu)提供了高耐磨性和抗裂性,實(shí)現(xiàn)了驚人的長壽命。例如,研磨氧化鋁粉末時(shí),其耐磨性是市售氧...
日本nasgiken金屬物質(zhì)自動(dòng)回收設(shè)備NAC系列 NAC-302●硅片的處理過程是自動(dòng)化的,從氣相分解到污染物回收再到收集樣品的稀釋。●疏水性和親水性晶圓均可...
日本nasgiken微量金屬污染物自動(dòng)回收裝置 NAC-302●硅片的處理過程是自動(dòng)化的,從氣相分解到污染物回收再到收集樣品的稀釋。●疏水性和親水性晶圓均可收集...
日本進(jìn)口Nasgiken批量晶圓整體表面蝕刻設(shè)備 BEM-310該設(shè)備使用臭氧和HF對(duì)硅晶片的整個(gè)表面進(jìn)行體蝕刻。氣體蝕刻不會(huì)在晶圓表面產(chǎn)生水滴。蝕刻期間晶圓中...
日本nasgiken硅晶片氣體蝕刻設(shè)備潔凈室裝置 BEM-310該設(shè)備使用臭氧和HF對(duì)硅晶片的整個(gè)表面進(jìn)行體蝕刻。氣體蝕刻不會(huì)在晶圓表面產(chǎn)生水滴。蝕刻期間晶圓中...
nasgiken日本微量金屬物質(zhì)回收裝置SC系列 SC-3100/SC-8100/SC-9100●連接至PC以創(chuàng)建各種收集模式,并從硅晶片的表面和側(cè)面(斜角部分...
日本進(jìn)口nasgiken微量金屬污染物采樣裝置 SC-3100/SC-8100/SC-9100●連接至PC以創(chuàng)建各種收集模式,并從硅晶片的表面和側(cè)面(斜角部分)...
日本nasgiken搜集硅晶片金屬污染物回收裝置 SC-3100/SC-8100/SC-9100●連接至PC以創(chuàng)建各種收集模式,并從硅晶片的表面和側(cè)面(斜角部分...
日酸t(yī)anaka大氣觀測(cè)環(huán)境測(cè)量小型壓力調(diào)節(jié)器 TANAKA日酸 ATR系列●大氣觀測(cè)、環(huán)境測(cè)量●高純度氣體的供給●其他領(lǐng)域及各種實(shí)驗(yàn)研究
日酸TANAKA彈簧棒用氧氣壓力調(diào)節(jié)器日本進(jìn)口 TANAKA日酸 NT50-LA系列彈簧棒用氧氣壓力調(diào)節(jié)器使用柳條的顧客!有沒有因?yàn)檠鯕夤┙o不足而無法發(fā)揮彈簧棒...
nisshooptical狹縫圖像觀察深度高度測(cè)量機(jī) AFM-30這是一種新型深度和高度測(cè)量裝置,結(jié)合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF(自動(dòng)對(duì)焦)...
nisshooptical鹵素光源目視檢查測(cè)量儀日本 AFM-30這是一種新型深度和高度測(cè)量裝置,結(jié)合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF(自動(dòng)對(duì)焦)...
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