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日本napson手動測量電阻測試儀半導體制造用 RT-70V系列 特點介紹
四探針法電阻率和方塊電阻手動測量裝置
測量測試儀（RT-70V）和測量臺的組合
<測量測試儀：RT-70V>
通過 JOG 旋鈕、厚度、溫度和 PN 輸入輕松操作（RT-70V 測試儀）
自檢功能、自動測量范圍切換、4 種測量模式
包括厚度和溫度校正功能 ( (對于硅）
測量目標
半導體能電池材料相關（硅、多晶硅、SiC等）
新材料/功能材料相關（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等）
導電薄膜相關（金屬、ITO等）
擴散樣品
日本napson手動測量電阻測試儀半導體制造用 RT-70V系列 規格參數
測量范圍
[電阻率（電阻率）] 1μ ~ 300kΩ?cm
[表面電阻] 5m ~ 10MΩ/sq
[電阻率（電阻率）] 1μ~300kΩ?cm
[表面電阻] 5m~10MΩ/sq
產品尺寸
RT-70V：W250×D330×H130mm
約7kg
四探針法電阻率和方塊電阻手動測量裝置
測量測試儀（RT-70V）和測量臺的組合
<測量測試儀：RT-70V>
通過 JOG 旋鈕、厚度、溫度和 PN 輸入輕松操作（RT-70V 測試儀）
自檢功能、自動測量范圍切換、4 種測量模式
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